TEST - Catálogo BURRF
   

Coherent Sources of XUV Radiation : (Registro nro. 277024)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 02989nam a22003615i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 277024
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20160429153801.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150903s2006 xxu| o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9780387299907
-- 9780387299907
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/9780387299907
Fuente del número o código doi
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000330794
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
Nivel de reglas en descripción bibliográfica 201509030429
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201404121723
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201404091500
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201401311351
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación staff
-- 201401301154
-- staff
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen MX-SnUAN
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia transcriptor MX-SnUAN
Normas de descripción rda
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Jaeglé, Pierre.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 299405
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Coherent Sources of XUV Radiation :
Resto del título Soft X-Ray Lasers and High-Order Harmonic Generation /
Mención de responsabilidad, etc. by Pierre Jaeglé.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright New York, NY :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer New York,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2006.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión xiii, 416 páginas, 332 ilustraciones
Otras características físicas recurso en línea.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Optical Sciences,
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas 0342-4111 ;
Designación de volumen o secuencia 106
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato to Coherent Extreme-Ultraviolet and Soft X-Ray Sources -- Short Survey of XUV Emission Mechanisms and Sources -- XUV Optics -- Coherent XUV Radiation Beams -- State of the Art and Prospect of X-Ray Lasers -- Beginnings -- General Features of X-Ray Lasers -- Propagation of XUV Laser Beams -- Saturated XUV Lasers -- Recombination Lasers -- Schemes for Future Soft X-Ray Lasers -- High Harmonic Generation -- Survey of the Theoretical Background -- General Characteristics of High-Order Harmonic Emission -- A Survey of Coherent XUV Sources Applications -- Time-Resolution About 100 Picoseconds -- Time-Resolution About One Picosecond -- Subfemtosecond Time-Resolution -- Future Prospects.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. Extreme ultraviolet radiation, also referred to as soft X-rays or XUV, offers very special optical properties. The X-UV refractive index of matter is such that normal reflection cannot take place on polished surfaces whereas beam transmission through one micrometer of almost all materials reduces to zero. Therefore, it has long been a difficult task to imagine and to implement devices designed for complex optics experiments in this wavelength range. Thanks to new sources of coherent radiation - XUV-lasers and High Order Harmonics - the use of XUV radiation, for interferometry, holography, diffractive optics, non-linear radiation-matter interaction, time-resolved study of fast and ultrafast phenomena and many other applications, including medical sciences, is ubiquitous.
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9780387230078
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29990-7">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29990-7</a>
Nota pública Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL)
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

No hay ítems disponibles.

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Soportado en Koha