Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting / (Registro nro. 277229)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 04204nam a22003735i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 277229 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | MX-SnUAN |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20160429153811.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 150903s2006 xxu| o |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9780387294094 |
| -- | 9780387294094 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
| Número estándar o código | 10.1007/0387294090 |
| Fuente del número o código | doi |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control de sistema | vtls000330744 |
| 039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
| Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030725 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404120526 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404090307 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201401311350 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | staff |
| -- | 201401301153 |
| -- | staff |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
| Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
| Lengua de catalogación | spa |
| Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
| Normas de descripción | rda |
| 050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
| Número de clasificación | TK7888.4 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Gizopoulos, Dimitris. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 299812 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
| Título | Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting / |
| Mención de responsabilidad, etc. | edited by Dimitris Gizopoulos. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Boston, MA : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer US, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2006. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | xxv, 412 páginas, |
| Otras características físicas | recurso en línea. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
| Término de tipo de contenido | texto |
| Código de tipo de contenido | txt |
| Fuente | rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO | |
| Nombre/término del tipo de medio | computadora |
| Código del tipo de medio | c |
| Fuente | rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
| Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
| Código del tipo de soporte | cr |
| Fuente | rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
| Tipo de archivo | archivo de texto |
| Formato de codificación | |
| Fuente | rda |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE | |
| Mención de serie | Frontiers in Electronic Testing, |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas | 0929-1296 ; |
| Designación de volumen o secuencia | 27 |
| 500 ## - NOTA GENERAL | |
| Nota general | Springer eBooks |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
| Nota de contenido con formato | Defect-Orinted Testing -- Failure Mechanisms and Testing in Nanometer Technologies -- Silicon Debug -- Delay Testing -- High-Speed Digital Test Interfaces -- DFT_Oriented,Low-Cost Testers -- Embedded Cores and System-on-Chip Testing -- Embedded MemoryTesting -- Mixed-Signal Testing and DfT -- RF Testing -- Loaded Board Testing. |
| 520 ## - SUMARIO, ETC. | |
| Sumario, etc. | Advances in Electronic Testing: Challenges and Methodologies is a new type of edited volume in the Frontiers in Electronic Testing book series devoted to recent advances in electronic circuits testing. The book is a comprehensive elaboration on important topics which capture major research and development efforts today. The motivation and inspiration behind this book is to deliver a thorough text that focuses on the evolution of test technology, provides insight about the abiding importance of discussed topics, records today’s state of the art and industrial practices and trends, reveals the challenges for emerging testing methodologies, and envisages the future of this journey. The book consists of eleven edited chapters written by experts in Defect-Oriented Testing, Nanometer Technologies Failures and Testing, Silicon Debug, Delay Testing, High-Speed Test Interfaces, DFT-Oriented Low-Cost Testers, Embedded Cores and System-on-Chip Testing, Memory Testing, Mixed-Signal Testing, RF Testing and Loaded Board Testing. Contributing authors are affiliated with (in alphabetical order) Agilent, ARM, Balearic Islands Univ., IBM, Inovys, Intel, LogicVision, Magma, Mentor Graphics, New Mexico Univ., Sandia National Labs, Synopsys, Teradyne and Texas Instruments. Advances in Electronic Testing: Challenges and Methodologies is an advanced textbook and reference point for senior undergraduate and graduate students in MSc or PhD tracks, professors and research leaders in the electronic testing domain. It is also for industry design and test engineers and managers seeking a global view and understanding of test technology practices and methodologies and a dense elaboration on test-related issues they face in their development projects. "There is a definite need for documenting the advances in testing … I find the work of this edited volume by Dimitris Gizopoulos and his team of authors to be significant and timely. […] the book provides, besides novel test methodologies, a collective insight into the emerging aspects of testing. This, I think, is beneficial to practicing engineers and researchers both of whom must stay at the forefront of technology. […] This latest addition to the Frontiers Series is destined to serve an important role." From the Foreword by Vishwani D. Agrawal, Consulting Editor, Frontiers in Electronic Testing Book Series. |
| 590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
| Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
| 9 (RLIN) | 299170 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9780387294087 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
| Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29409-0">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29409-0</a> |
| Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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