TEST - Catálogo BURRF
   

Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization / (Registro nro. 278301)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 03102nam a22003615i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 278301
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20160429153858.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150903s2005 xxu| o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9780387256245
-- 978-0-387-25624-5
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/b135763
Fuente del número o código doi
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000330177
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
Nivel de reglas en descripción bibliográfica 201509030443
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201405070502
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201401311332
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación staff
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201401311156
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación staff
-- 201401291449
-- staff
-- msplit0.mrc
-- 597
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación TK1-9971
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Larsson, Erik.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 301836
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization /
Mención de responsabilidad, etc. by Erik Larsson.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Boston, MA :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer US,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2005.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión XVI, 388 páginas,
Otras características físicas recurso en línea.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Frontiers in Electronic Testing,
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas 0929-1296 ;
Designación de volumen o secuencia 29
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Testing Concepts -- Design Flow -- Design for Test -- Boundary Scan -- SOC Design for Testability -- System Modeling -- Test Conflicts -- Test Power Dissipation -- Test Access Mechanism -- Test Scheduling -- SOC Test Applications -- A Reconfigurable Power-Conscious Core Wrapper and its Application to System-on-Chip Test Scheduling -- An Integrated Framework for the Design and Optimization of SOC Test Solutions -- Efficient Test Solutions for Core-Based Designs -- Core Selection in the SOC Test Design-Flow -- Defect-Aware Test Scheduling -- An Integrated Technique for Test Vector Selection and Test Scheduling under ATE Memory Depth Constraint.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process.
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9781402032073
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/b135763">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/b135763</a>
Nota pública Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL)
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

No hay ítems disponibles.

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