Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization / (Registro nro. 278301)
[ vista simple ]
000 -CABECERA | |
---|---|
campo de control de longitud fija | 03102nam a22003615i 4500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | 278301 |
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | MX-SnUAN |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20160429153858.0 |
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 150903s2005 xxu| o |||| 0|eng d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
Número Internacional Estándar del Libro | 9780387256245 |
-- | 978-0-387-25624-5 |
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
Número estándar o código | 10.1007/b135763 |
Fuente del número o código | doi |
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
Número de control de sistema | vtls000330177 |
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030443 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201405070502 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201401311332 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | staff |
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201401311156 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | staff |
-- | 201401291449 |
-- | staff |
-- | msplit0.mrc |
-- | 597 |
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
Número de clasificación | TK1-9971 |
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Larsson, Erik. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 301836 |
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
Título | Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization / |
Mención de responsabilidad, etc. | by Erik Larsson. |
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Boston, MA : |
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer US, |
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2005. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | XVI, 388 páginas, |
Otras características físicas | recurso en línea. |
336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
Término de tipo de contenido | texto |
Código de tipo de contenido | txt |
Fuente | rdacontent |
337 ## - TIPO DE MEDIO | |
Nombre/término del tipo de medio | computadora |
Código del tipo de medio | c |
Fuente | rdamedia |
338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
Código del tipo de soporte | cr |
Fuente | rdacarrier |
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
Tipo de archivo | archivo de texto |
Formato de codificación | |
Fuente | rda |
490 0# - MENCIÓN DE SERIE | |
Mención de serie | Frontiers in Electronic Testing, |
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas | 0929-1296 ; |
Designación de volumen o secuencia | 29 |
500 ## - NOTA GENERAL | |
Nota general | Springer eBooks |
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
Nota de contenido con formato | Testing Concepts -- Design Flow -- Design for Test -- Boundary Scan -- SOC Design for Testability -- System Modeling -- Test Conflicts -- Test Power Dissipation -- Test Access Mechanism -- Test Scheduling -- SOC Test Applications -- A Reconfigurable Power-Conscious Core Wrapper and its Application to System-on-Chip Test Scheduling -- An Integrated Framework for the Design and Optimization of SOC Test Solutions -- Efficient Test Solutions for Core-Based Designs -- Core Selection in the SOC Test Design-Flow -- Defect-Aware Test Scheduling -- An Integrated Technique for Test Vector Selection and Test Scheduling under ATE Memory Depth Constraint. |
520 ## - SUMARIO, ETC. | |
Sumario, etc. | SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process. |
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
9 (RLIN) | 299170 |
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
Número Internacional Estándar del Libro | 9781402032073 |
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/b135763">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/b135763</a> |
Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
No hay ítems disponibles.