Physical Principles of Electron Microscopy : (Registro nro. 278500)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 02432nam a22003495i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 278500 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | MX-SnUAN |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20160429153906.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 150903s2005 xxu| o |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9780387260167 |
| -- | 978-0-387-26016-7 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
| Número estándar o código | 10.1007/b136495 |
| Fuente del número o código | doi |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control de sistema | vtls000330234 |
| 039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
| Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509031113 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201405070504 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201401311334 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | staff |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201401311158 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | staff |
| -- | 201401291450 |
| -- | staff |
| -- | msplit0.mrc |
| -- | 654 |
| 050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
| Número de clasificación | TA404.6 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Egerton, Ray F. |
| Término indicativo de función/relación | autor |
| 9 (RLIN) | 302175 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
| Título | Physical Principles of Electron Microscopy : |
| Resto del título | An Introduction to TEM, SEM, and AEM / |
| Mención de responsabilidad, etc. | by Ray F. Egerton. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Boston, MA : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer US : |
| -- | Imprint: Springer, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2005. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | XII, 202 páginas, 122 illus. |
| Otras características físicas | recurso en línea. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
| Término de tipo de contenido | texto |
| Código de tipo de contenido | txt |
| Fuente | rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO | |
| Nombre/término del tipo de medio | computadora |
| Código del tipo de medio | c |
| Fuente | rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
| Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
| Código del tipo de soporte | cr |
| Fuente | rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
| Tipo de archivo | archivo de texto |
| Formato de codificación | |
| Fuente | rda |
| 500 ## - NOTA GENERAL | |
| Nota general | Springer eBooks |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
| Nota de contenido con formato | An Introduction to Microscopy -- Electron Optics -- The Transmission Electron Microscope -- TEM Specimens and Images -- The Scanning Electron Microscope -- Analytical Electron Microscopy -- Recent Developments. |
| 520 ## - SUMARIO, ETC. | |
| Sumario, etc. | Scanning and stationary-beam electron microscopes have become an indispensable tool for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology, and the biological and medical sciences. Physical Principles of Electron Microscopy provides an introduction to the theory and current practice of electron microscopy for undergraduate students who want to acquire an appreciation of how basic principles of physics are utilized in an important area of applied science, and for graduate students and technologists who make use of electron microscopes. At the same time, this book will be equally valuable for university teachers and researchers who need a concise supplemental text that deals with the basic principles of microscopy. |
| 590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
| Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
| 9 (RLIN) | 299170 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9780387258003 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
| Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/b136495">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/b136495</a> |
| Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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