Semiconductor Modeling : (Registro nro. 278572)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 04341nam a22003615i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 278572 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | MX-SnUAN |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20160429153909.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 150903s2006 xxu| o |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9780387241609 |
| -- | 978-0-387-24160-9 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
| Número estándar o código | 10.1007/b104647 |
| Fuente del número o código | doi |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control de sistema | vtls000330026 |
| 039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
| Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509031109 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201405070455 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201401311326 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | staff |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201401311151 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | staff |
| -- | 201401291445 |
| -- | staff |
| -- | msplit0.mrc |
| -- | 447 |
| 050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
| Número de clasificación | TK7888.4 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Leventhal, Roy G. |
| Término indicativo de función/relación | autor |
| 9 (RLIN) | 302283 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
| Título | Semiconductor Modeling : |
| Resto del título | For Simulating Signal, Power, and Electromagnetic Integrity / |
| Mención de responsabilidad, etc. | by Roy G. Leventhal, Lynne Green. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Boston, MA : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer US, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2006. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | XX, 768 páginas, With CD-ROM. |
| Otras características físicas | recurso en línea. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
| Término de tipo de contenido | texto |
| Código de tipo de contenido | txt |
| Fuente | rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO | |
| Nombre/término del tipo de medio | computadora |
| Código del tipo de medio | c |
| Fuente | rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
| Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
| Código del tipo de soporte | cr |
| Fuente | rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
| Tipo de archivo | archivo de texto |
| Formato de codificación | |
| Fuente | rda |
| 500 ## - NOTA GENERAL | |
| Nota general | Springer eBooks |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
| Nota de contenido con formato | How the Workplace Supports Successful Design -- to Modeling Concepts -- Generating Models -- Model Properties Derived from Device Physics Theory -- Measuring Model Properties in the Laboratory -- Using Statistical Data to Characterize Component Populations -- Selecting Components and Their Models -- Using Selection Guides to Compare and Contrast Components -- Using Data Sheets to Compare and Contrast Components -- Selecting the Best Model for a Simulation -- Modeling and Simulation in the Design Process Flow -- About the IBIS Model -- Key Concepts of the IBIS Specification -- Using IBIS Models in What-If Simulations -- Fixing Errors and Omissions in IBIS Models -- Using EDA Tools to Create and Validate IBIS Models from Spice -- Managing Models -- Sources of IBIS Models -- Working with the Model Library -- Model Accuracy and Verification -- Methodology for Verifying Models -- Verifying Model Accuracy by Using Laboratory Measurements -- Balancing Accuracy Against Practicality When Correlating Simulation Results -- Deriving an Equation-Based Model from a Macromodel -- Future Directions in Modeling -- The Challenge to Ibis -- Feedback to the Model Provider Improves Model Accuracy -- Future Trends in Modeling -- Using Probability: The Ultimate Future of Simulation. |
| 520 ## - SUMARIO, ETC. | |
| Sumario, etc. | Semiconductor Modeling: For Simulating Signal, Power, and Electromagnetic Integrity gives designers and engineers a broad view of using semiconductor models to design high-speed circuit boards. Most issues in the field of designing high-frequency circuits, from the beginning of modeling and simulation using EDA tools to future trends, are discussed and integrated. The main technical focus of Semiconductor Modeling: For Simulating Signal, Power, and Electromagnetic Integrity is the use of simulation to help solve practical engineering problems. The book draws on over 90 years of diverse technical experience and brings together theory, tools, components, software, and experience to help engineers create successful electronic products. This book will help engineers understand how to approach problem solving while designing high-speed circuits. In particular, it helps engineers in the following areas: · Encountering non-existent, incomplete, and erroneous semiconductor circuit models. · Applying EDA tools to achieve practical designs despite model limitations. · Grasping the basic high-speed digital, RF, and EMC design concepts that guide design intent. · Applying EDA tools to cutting-edge digital technology. · Working with suppliers, CAD team members, and others. · Understanding the processes and procedures that enable and enhance the design process. The book presents the material in a manner that is helpful to circuit and product design engineers who have little or no specialized knowledge of high-speed digital design or semiconductors. |
| 590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
| Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Green, Lynne. |
| Término indicativo de función/relación | autor |
| 9 (RLIN) | 302284 |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
| 9 (RLIN) | 299170 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9780387241593 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
| Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/b104647">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/b104647</a> |
| Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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