TEST - Catálogo BURRF
   

Optoelectronic Devices : (Registro nro. 278648)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 03272nam a22003375i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 278648
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20160429153913.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150903s2005 xxu| o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9780387272566
-- 978-0-387-27256-6
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/b138826
Fuente del número o código doi
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000330368
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
Nivel de reglas en descripción bibliográfica 201509030400
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201405070514
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201401311338
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación staff
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201401311202
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación staff
-- 201401291453
-- staff
-- msplit0.mrc
-- 788
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Piprek, Joachim.
Término indicativo de función/relación editor.
9 (RLIN) 302409
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Optoelectronic Devices :
Resto del título Advanced Simulation and Analysis /
Mención de responsabilidad, etc. edited by Joachim Piprek.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright New York, NY :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer New York,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2005.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión XIV, 452páginas, 238 illus.
Otras características físicas recurso en línea.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Gain and Absorption: Many-Body Effects -- Fabry-Perot Lasers: Temperature and Many-Body Effects -- Fabry-Perot Lasers: Thermodynamics-Based Modeling -- Distributed Feedback Lasers: Quasi-3D Static and Dynamic Model -- Multisection Lasers: Longitudinal Modes and their Dynamics -- Wavelength Tunable Lasers: Time-Domain Model for SG-DBR Lasers -- Monolithic Mode-Locked Semiconductor Lasers -- Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers: Single-Mode Control and Self-Heating Effects -- Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers: High-Speed Performance and Analysis -- GaN-based Light-Emitting Diodes -- Silicon Solar Cells -- Charge-Coupled Devices -- Infrared HgCdTe Optical Detectors -- Monolithic Wavelength Converters: Many-Body Effects and Saturation Analysis -- Active Photonic Integrated Circuits.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. Optoelectronic devices transform electrical signals into optical signals and vice versa by utilizing the sophisticated interaction of electrons and light within micro- and nano-scale semiconductor structures. Advanced software tools for design and analysis of such devices have been developed in recent years. However, the large variety of materials, devices, physical mechanisms, and modeling approaches often makes it difficult to select appropriate theoretical models or software packages. This book presents a review of devices and advanced simulation approaches written by leading researchers and software developers. It is intended for scientists and device engineers in optoelectronics, who are interested in using advanced software tools. Each chapter includes the theoretical background as well as practical simulation results that help to better understand internal device physics. The software packages used in the book are available to the public, on a commercial or noncommercial basis, so that the interested reader is quickly able to perform similar simulations.
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9780387226590
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/b138826">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/b138826</a>
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942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

No hay ítems disponibles.

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