TEST - Catálogo BURRF
   

Emerging Nanotechnologies : (Registro nro. 279207)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 03521nam a22003735i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 279207
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20160429153936.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150903s2008 xxu| o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9780387747477
-- 9780387747477
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/9780387747477
Fuente del número o código doi
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000332535
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
Nivel de reglas en descripción bibliográfica 201509030230
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201404122156
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201404091927
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
-- 201402041031
-- staff
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen MX-SnUAN
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia transcriptor MX-SnUAN
Normas de descripción rda
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación TK7888.4
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Tehranipoor, Mohammad.
Término indicativo de función/relación editor.
9 (RLIN) 303229
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Emerging Nanotechnologies :
Resto del título Test, Defect Tolerance, and Reliability /
Mención de responsabilidad, etc. edited by Mohammad Tehranipoor.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Boston, MA :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer US,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2008.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Otras características físicas recurso en línea.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Frontiers in Electronic Testing,
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas 0929-1296 ;
Designación de volumen o secuencia 37
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Test and Defect Tolerance for Crossbar-Based Architectures -- Defect-Tolerant Logic with Nanoscale Crossbar Circuits -- Built-in Self-Test and Defect Tolerance in Molecular Electronics-Based Nanofabrics -- Test and Defect Tolerance for Reconfigurable Nanoscale Devices -- A Built-In Self-Test and Diagnosis Strategy for Chemically-Assembled Electronic Nanotechnology -- Defect Tolerance in Crossbar Array Nano-Architectures -- Test and Defect Tolerance for QCA Circuits -- Reversible and Testable Circuits for Molecular QCA Design -- Cellular Array-Based Delay-Insensitive Asynchronous Circuits Design and Test for Nanocomputing Systems -- QCA Circuits for Robust Coplanar Crossing -- Reliability and Defect Tolerance in Metallic Quantum-Dot Cellular Automata -- Testing Microfluidic Biochips -- Test Planning and Test Resource Optimization for Droplet-Based Microfluidic Systems -- Testing and Diagnosis of Realistic Defects in Digital Microfluidic Biochips -- Reliability for Nanotechnology Devices -- Designing Nanoscale Logic Circuits Based on Principles of Markov Random Fields -- Towards Nanoelectronics Processor Architectures -- Design and Analysis of Fault-Tolerant Molecular Computing Systems.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality. Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9780387747460
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7</a>
Nota pública Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL)
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

No hay ítems disponibles.

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Soportado en Koha