Physical Limitations of Semiconductor Devices / (Registro nro. 279401)
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000 -CABECERA | |
---|---|
campo de control de longitud fija | 03084nam a22003735i 4500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | 279401 |
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | MX-SnUAN |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20170705134202.0 |
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 150903s2008 xxu| o |||| 0|eng d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
Número Internacional Estándar del Libro | 9780387745145 |
-- | 9780387745145 |
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
Número estándar o código | 10.1007/9780387745145 |
Fuente del número o código | doi |
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
Número de control de sistema | vtls000332503 |
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030230 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404122150 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404091920 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
-- | 201402041030 |
-- | staff |
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
Lengua de catalogación | spa |
Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
Normas de descripción | rda |
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
Número de clasificación | TK7800-8360 |
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Vashchenko, V. A. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 303698 |
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
Título | Physical Limitations of Semiconductor Devices / |
Mención de responsabilidad, etc. | by V. A. Vashchenko, V. F. Sinkevitch. |
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Boston, MA : |
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer US, |
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2008. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Otras características físicas | recurso en línea. |
336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
Término de tipo de contenido | texto |
Código de tipo de contenido | txt |
Fuente | rdacontent |
337 ## - TIPO DE MEDIO | |
Nombre/término del tipo de medio | computadora |
Código del tipo de medio | c |
Fuente | rdamedia |
338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
Código del tipo de soporte | cr |
Fuente | rdacarrier |
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
Tipo de archivo | archivo de texto |
Formato de codificación | |
Fuente | rda |
500 ## - NOTA GENERAL | |
Nota general | Springer eBooks |
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
Nota de contenido con formato | Failures of Semiconductor Device -- Theoretical Basis of Current Instability in Transistor Structures -- Thermal Instability Mechanism -- Isothermal Current Instability in Silicon BJT and MOSFETs -- Isothermal Instability in Compound Semiconductor Devices -- Degradation Instabilities -- Conductivity Modulation in ESD devices -- Physical Approach to Reliability. |
520 ## - SUMARIO, ETC. | |
Sumario, etc. | Physical Limitations of Semiconductor Devices provides an in depth understanding of the phenomena and regularities that play a critical role in the limitation of semiconductor device capabilities. It discusses how thermo-electrical breakdown, conductivity modulation, and electrical and spatial current instability phenomena affect the limitations of the devices. The authors give examples of the phenomena ranging from elementary semiconductor diode structures to discrete power and integrated components. They also show circuits both for silicon and compound semiconductor devices. The material covers different levels of complexity including phenomenological, analytical, and numerical simulation. The material also explores the most complex phenomena of current filamentation and the impact of local structure defects, physical safe operating area limitations, and various scenarios of catastrophic failures in semiconductor devices. The emphasis of the book is on the physical approach to reliability assurance, safe operating area, and ESD problems. Physical Limitations of Semiconductor Devices provides an important link between the theoretical aspects of the physics of semiconductor devices, non-linear physics, and the practical applications of microelectronics. |
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Sinkevitch, V. F. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 303699 |
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
9 (RLIN) | 299170 |
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
Número Internacional Estándar del Libro | 9780387745138 |
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74514-5">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74514-5</a> |
Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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