TEST - Catálogo BURRF
   

Evolution of Thin Film Morphology : (Registro nro. 279522)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 03298nam a22003855i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 279522
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20170705134202.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150903s2008 xxu| o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9780387751092
-- 9780387751092
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/9780387751092
Fuente del número o código doi
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000332565
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
Nivel de reglas en descripción bibliográfica 201509030755
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201404122202
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201404091932
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
-- 201402041032
-- staff
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen MX-SnUAN
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia transcriptor MX-SnUAN
Normas de descripción rda
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación TA418.7-418.76
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Pelliccione, Matthew.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 303905
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Evolution of Thin Film Morphology :
Resto del título Modeling and Simulations /
Mención de responsabilidad, etc. by Matthew Pelliccione, Toh-Ming Lu.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright New York, NY :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer New York,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2008.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión xI, 206 páginas
Otras características físicas recurso en línea.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Materials Science,
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas 0933-033X ;
Designación de volumen o secuencia 108
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Description of Thin Film Morphology -- Surface Statistics -- Self-Affine Surfaces -- Mounded Surfaces -- Continuum Surface Growth Models -- Stochastic Growth Equations -- Small World Growth Model -- Discrete Surface Growth Models -- Monte Carlo Simulations -- Solid-on-Solid Models -- Ballistic Aggregation Models -- Concluding Remarks.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. Thin film deposition is the most ubiquitous and critical of the processes used to manufacture high tech devices. Morphology and microstructure of thin films directly controls their optical, magnetic, and electrical properties. This book focuses on modeling and simulations used in research on the morphological evolution during film growth. The authors emphasize the detailed mathematical formulation of the problem both through numerical calculations based on Langevin continuum equations, and through Monte Carlo simulations based on discrete surface growth models when an analytical formulism is not convenient. Evolution of Thin-Film Morphology will be of benefit to university researchers and industrial scientists working in the areas of semiconductor processing, optical coating, plasma etching, patterning, micro-machining, polishing, tribology, and any discipline that requires an understanding of thin film growth processes. In particular, the reader will be introduced to the mathematical tools that are available to describe such a complex problem, and appreciate the utility of the various modeling methods through numerous example discussions. For beginners in the field, the text is written assuming a minimal background in mathematics and computer programming. The book will enable readers themselves to set up a computational program to investigate specific topics of interest in thin film deposition.
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Lu, Toh-Ming.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 303906
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9780387751085
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75109-2">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75109-2</a>
Nota pública Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL)
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

No hay ítems disponibles.

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