Static Timing Analysis for Nanometer Designs : (Registro nro. 280561)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 02966nam a22003615i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 280561 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | MX-SnUAN |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20160429154029.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 150903s2009 xxu| o |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9780387938202 |
| -- | 9780387938202 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
| Número estándar o código | 10.1007/9780387938202 |
| Fuente del número o código | doi |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control de sistema | vtls000333391 |
| 039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
| Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030203 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404130429 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404092218 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| -- | 201402041110 |
| -- | staff |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
| Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
| Lengua de catalogación | spa |
| Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
| Normas de descripción | rda |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Chadha, Rakesh. |
| Término indicativo de función/relación | autor |
| 9 (RLIN) | 305570 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
| Título | Static Timing Analysis for Nanometer Designs : |
| Resto del título | A Practical Approach / |
| Mención de responsabilidad, etc. | by Rakesh Chadha, J. Bhasker. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Boston, MA : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer US, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2009. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Otras características físicas | recurso en línea. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
| Término de tipo de contenido | texto |
| Código de tipo de contenido | txt |
| Fuente | rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO | |
| Nombre/término del tipo de medio | computadora |
| Código del tipo de medio | c |
| Fuente | rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
| Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
| Código del tipo de soporte | cr |
| Fuente | rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
| Tipo de archivo | archivo de texto |
| Formato de codificación | |
| Fuente | rda |
| 500 ## - NOTA GENERAL | |
| Nota general | Springer eBooks |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
| Nota de contenido con formato | STA Concepts -- Standard Cell Library -- Interconnect Parasitics -- Delay Calculation -- Crosstalk and Noise -- Configuring the STA Environment -- Timing Verification -- Interface Analysis -- Robust Verification. |
| 520 ## - SUMARIO, ETC. | |
| Sumario, etc. | Static Timing Analysis for Nanometer Designs: A Practical Approach is a reference for both beginners as well as professionals working in the area of static timing analysis for semiconductors. This book provides a blend of underlying theoretical background and in-depth coverage of timing verification using static timing analysis. The relevant topics such as cell and interconnect modeling, timing calculation, and crosstalk, which can impact the timing of a nanometer design are covered in detail. Timing checks at various process, environment, and interconnect corners, including on-chip variations, are explained in detail. Verification of hierarchal building blocks, full chip, including timing verification of special IO interfaces are covered in detail. Appendices provide complete coverage of SDC, SDF, and SPEF formats. This book is written for professionals working in the area of chip design, timing verification of ASICs and also for graduate students specializing in logic and chip design. Professionals who are beginning to use static timing analysis or are already well-versed in static timing analysis will find this book useful. Static Timing Analysis for Nanometer Designs serves as a reference for a graduate course in chip design and as a text for a course in timing verification for working engineers. |
| 590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
| Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Bhasker, J. |
| Término indicativo de función/relación | autor |
| 9 (RLIN) | 305571 |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
| 9 (RLIN) | 299170 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9780387938196 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
| Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-93820-2">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-93820-2</a> |
| Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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