Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : (Registro nro. 280734)
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000 -CABECERA | |
---|---|
campo de control de longitud fija | 03932nam a22004095i 4500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | 280734 |
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | MX-SnUAN |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20160429154036.0 |
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 150903s2010 xxu| o |||| 0|eng d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
Número Internacional Estándar del Libro | 9780387981826 |
-- | 9780387981826 |
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
Número estándar o código | 10.1007/9780387981826 |
Fuente del número o código | doi |
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
Número de control de sistema | vtls000333453 |
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030232 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404130441 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404092230 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
-- | 201402041111 |
-- | staff |
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
Lengua de catalogación | spa |
Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
Normas de descripción | rda |
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
Número de clasificación | TA404.6 |
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Ayache, Jeanne. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 305874 |
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
Título | Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy : |
Resto del título | Methodology / |
Mención de responsabilidad, etc. | by Jeanne Ayache, Luc Beaunier, Jacqueline Boumendil, Gabrielle Ehret, Danièle Laub. |
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | New York, NY : |
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer New York : |
-- | Imprint: Springer, |
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2010. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | xxiii, 250 páginas 114 ilustraciones |
Otras características físicas | recurso en línea. |
336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
Término de tipo de contenido | texto |
Código de tipo de contenido | txt |
Fuente | rdacontent |
337 ## - TIPO DE MEDIO | |
Nombre/término del tipo de medio | computadora |
Código del tipo de medio | c |
Fuente | rdamedia |
338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
Código del tipo de soporte | cr |
Fuente | rdacarrier |
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
Tipo de archivo | archivo de texto |
Formato de codificación | |
Fuente | rda |
500 ## - NOTA GENERAL | |
Nota general | Springer eBooks |
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
Nota de contenido con formato | Methodology: General Introduction -- to Materials -- The Different Observation Modes in Electron Microscopy (SEM, TEM, STEM) -- Materials Problems and Approaches for TEM and TEM/STEM Analyses -- Physical and Chemical Mechanisms of Preparation Techniques -- Artifacts in Transmission Electron Microscopy -- Selection of Preparation Techniques Based on Material Problems and TEM Analyses -- Comparisons of Techniques -- Conclusion: What Is a Good Sample?. |
520 ## - SUMARIO, ETC. | |
Sumario, etc. | This two-volume Handbook is a comprehensive and authoritative guide to sample preparation for the transmission electron microscope. This first volume covers general theoretical and practical aspects of the methodologies used for TEM analysis and observation of any sample. The information will help you to choose the best preparative technique for your application taking into account material types, structures, and their properties. Physical properties, material classification, and microstructures are considered together with a thorough description of the physics and chemistry of sample preparation and the main artifacts brought about by mechanical, physical and chemical methods, principles which are also applicable to sample preparation for the SEM, AFM etc.. Also included is a discussion of how to combine techniques for complex sample analysis and to obtain a TEM thin slice. Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy: Methodology will guide you through the most current techniques for successful sample preparation in all fields from materials science to biology. Key Features of the Handbook: Combines all of the latest techniques for the preparation of mineral to biological samples Compares techniques in terms of their application areas, limitations, artifacts, and types of analysis (macroscopic, atomic, or molecular level) Describes physical characteristics, chemistry, structure/texture, and orientation properties of materials in relation to the most appropriate type of TEM analysis Links to a complementary interactive database website which is available to scientists worldwide* Written by authors with 100 years of combined experience in electron microscopy http://temsamprep.in2p3.fr/ |
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Beaunier, Luc. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 305875 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Boumendil, Jacqueline. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 305876 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Ehret, Gabrielle. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 305877 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Laub, Danièle. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 305878 |
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
9 (RLIN) | 299170 |
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
Número Internacional Estándar del Libro | 9780387981819 |
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-98182-6">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-98182-6</a> |
Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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