Electron Backscatter Diffraction in Materials Science / (Registro nro. 281001)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 04698nam a22003975i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 281001 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | MX-SnUAN |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20160429154046.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 150903s2009 xxu| o |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9780387881362 |
| -- | 9780387881362 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
| Número estándar o código | 10.1007/9780387881362 |
| Fuente del número o código | doi |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control de sistema | vtls000333210 |
| 039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
| Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030801 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404130356 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404092144 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| -- | 201402041105 |
| -- | staff |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
| Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
| Lengua de catalogación | spa |
| Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
| Normas de descripción | rda |
| 050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
| Número de clasificación | TA401-492 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Schwartz, Adam J. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 306320 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
| Título | Electron Backscatter Diffraction in Materials Science / |
| Mención de responsabilidad, etc. | edited by Adam J. Schwartz, Mukul Kumar, Brent L. Adams, David P. Field. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Boston, MA : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer US, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2009. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | xxii, 403 páginas |
| Otras características físicas | recurso en línea. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
| Término de tipo de contenido | texto |
| Código de tipo de contenido | txt |
| Fuente | rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO | |
| Nombre/término del tipo de medio | computadora |
| Código del tipo de medio | c |
| Fuente | rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
| Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
| Código del tipo de soporte | cr |
| Fuente | rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
| Tipo de archivo | archivo de texto |
| Formato de codificación | |
| Fuente | rda |
| 500 ## - NOTA GENERAL | |
| Nota general | Springer eBooks |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
| Nota de contenido con formato | Present State of Electron Backscatter Diffraction and Prospective Developments -- Dynamical Simulation of Electron Backscatter Diffraction Patterns -- Representations of Texture -- Energy Filtering in EBSD -- Spherical Kikuchi Maps and Other Rarities -- Application of Electron Backscatter Diffraction to Phase Identification -- Phase Identification Through Symmetry Determination in EBSD Patterns -- Three-Dimensional Orientation Microscopy by Serial Sectioning and EBSD-Based Orientation Mapping in a FIB-SEM -- Collection, Processing, and Analysis of Three-Dimensional EBSD Data Sets -- 3D Reconstruction of Digital Microstructures -- Direct 3D Simulation of Plastic Flow from EBSD Data -- First-Order Microstructure Sensitive Design Based on Volume Fractions and Elementary Bounds -- Second-Order Microstructure Sensitive Design Using 2-Point Spatial Correlations -- Combinatorial Materials Science and EBSD: A High Throughput Experimentation Tool -- Grain Boundary Networks -- Measurement of the Five-Parameter Grain Boundary Distribution from Planar Sections -- Strain Mapping Using Electron Backscatter Diffraction -- Mapping and Assessing Plastic Deformation Using EBSD -- Analysis of Deformation Structures in FCC Materials Using EBSD and TEM Techniques -- Application of EBSD Methods to Severe Plastic Deformation (SPD) and Related Processing Methods -- Applications of EBSD to Microstructural Control in Friction Stir Welding/Processing -- Characterization of Shear Localization and Shock Damage with EBSD -- Texture Separation for ?/? Titanium Alloys -- A Review of In Situ EBSD Studies -- Electron Backscatter Diffraction in Low Vacuum Conditions -- EBSD in the Earth Sciences: Applications, Common Practice, and Challenges -- Orientation Imaging Microscopy in Research on High Temperature Oxidation. |
| 520 ## - SUMARIO, ETC. | |
| Sumario, etc. | Electron backscatter diffraction (EBSD), when employed as an additional characterization technique to a scanning electron microscope (SEM), enables individual grain orientations, local texture, point-to-point orientation correlations, and phase identification and distributions to be determined routinely on the surfaces of bulk polycrystalline materials. The application has experienced rapid acceptance in metallurgical, materials, and geophysical laboratories within the past decade due to the wide availability of SEMs, the ease of sample preparation from the bulk, the high speed of data acquisition, and the access to complimentary information about the microstructure on a submicron scale. This entirely new second edition describes the complete EBSD technique, from the experimental set-up, representations of textures, and dynamical simulation, to energy-filtered, spherical, and 3-D EBSD, to phase identification, in situ experiments, strain mapping, and grain boundary networks, to the design and modeling of materials microstructures. Numerous application examples including the analysis of deformation microstructure, dynamic deformation and damage, and EBSD studies in the earth sciences provide details of this powerful materials characterization technique. |
| 590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
| Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Kumar, Mukul. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 306321 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Adams, Brent L. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 306322 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Field, David P. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 306323 |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
| 9 (RLIN) | 299170 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9780387881355 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
| Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-88136-2">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-88136-2</a> |
| Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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