Electron Crystallography : (Registro nro. 281240)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 05978nam a22004095i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 281240 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | MX-SnUAN |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20160429154056.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 150903s2006 ne | o |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9781402039201 |
| -- | 9781402039201 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
| Número estándar o código | 10.1007/1402039204 |
| Fuente del número o código | doi |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control de sistema | vtls000334558 |
| 039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
| Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030216 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404120810 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404090549 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| -- | 201402041151 |
| -- | staff |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
| Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
| Lengua de catalogación | spa |
| Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
| Normas de descripción | rda |
| 050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
| Número de clasificación | QD901-999 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Weirich, Thomas E. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 306760 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
| Título | Electron Crystallography : |
| Resto del título | Novel Approaches for Structure Determination of Nanosized Materials / |
| Mención de responsabilidad, etc. | edited by Thomas E. Weirich, János L. Lábár, Xiaodong Zou. |
| 246 3# - FORMA VARIANTE DE TÍTULO | |
| Título propio/Titulo breve | Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Electron Crystallography: Novel Approaches for Structure Determination of Nanosized Materials, Erice, Italy, 10 - 24 June 2004 |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Dordrecht : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer Netherlands, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2006. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | xviii, 536 páginas |
| Otras características físicas | recurso en línea. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
| Término de tipo de contenido | texto |
| Código de tipo de contenido | txt |
| Fuente | rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO | |
| Nombre/término del tipo de medio | computadora |
| Código del tipo de medio | c |
| Fuente | rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
| Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
| Código del tipo de soporte | cr |
| Fuente | rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
| Tipo de archivo | archivo de texto |
| Formato de codificación | |
| Fuente | rda |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE | |
| Mención de serie | NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas | 1568-2609 ; |
| Designación de volumen o secuencia | 211 |
| 500 ## - NOTA GENERAL | |
| Nota general | Springer eBooks |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
| Nota de contenido con formato | What is Electron Crystallography? -- Exploiting Sub-Ångstrom Abilities: -- The Way Forward for Electron Crystallography -- Symmetry and Structure -- Experimental techniques -- to Electron Diffraction -- Symmetry Determinations by Electron Diffraction -- Electron Diffraction Structure Analysis -- Quantitative Electron Diffraction Structure Analysis (EDSA) -- Quantification of Texture Patterns -- Quantitative Convergent Beam Electron Diffraction -- New Instrumentation for TEM Electron Diffraction Structure Analysis: Electron Diffractometry Combined with Beam Precession -- Role of Electron Powder Diffraction in Solving Structures -- Gas-Phase Electron Diffraction for Molecular Structure Determination -- Phase Identification by Combining Local Composition from EDX with Information from Diffraction Database -- Analysis of Local Structure, Chemistry and Bonding by Electron Energy Loss Spectroscopy -- Crystal structure determination from electron microscopy data -- From Fourier Series Towards Crystal Structures -- Crystal Structure Determination by Image Deconvolution and Resolution Enhancement -- Structure Determination from HREM by Crystallographic Image Processing -- 3D Reconstruction of Inorganic Crystals -- Solving and Refining Crystal Structures from Electron Diffraction Data -- The Maximum Entropy Method of Solving Crystal Structures from Electron Diffraction Data -- Structure Refinement by Taking Dynamical Diffraction into Account -- TrueImage -- Applications -- New Insights into the Nanoworld of Functional Materials -- Electron Crystallography on Polymorphs -- Electron Crystallography in Mineralogy and Materials Science -- Structures of Zeolites and Mesoporous Crystals Determined by Electron Diffraction and High-resolution Electron Microscopy -- Hrtem Investigation of Nanocrystalline Materials -- Electron Crystallography on Beam Sensitive Materials -- Characterisation of Catalysts by Transmission Electron Microscopy -- Extended abstracts -- Structural Investigations of Cold Worked Iron Based Alloys after Nitriding -- Structural Refinement of Nanocrystalline TiO2 Samples -- Relation between Magnetic Properties and the Structure of Iron-based Amorphous Alloys Determined by Electron Diffraction -- Selected Issues in Quantitative Structure Analysis of Nanocrystalline Alloys -- Charge Ordering and Tilt Modulation in Multiferroic Fluorides with TTB Structure by Electron Diffraction and Single Crystal XRD -- Electron Diffraction by Distorted Nanocrystals -- Electron Microscopy Investigations of Glassy-Like Carbon -- Image Deconvolution on Crystals with Interfaces -- Crystal Structure Determination by Maximum Entropy Image Deconvolution in Combination with Image Simulation. |
| 520 ## - SUMARIO, ETC. | |
| Sumario, etc. | During the last decade we have been witness to several exciting achievements in electron crystallography. This includes structural and charge density studies on organic molecules complicated inorganic and metallic materials in the amorphous, nano-, meso- and quasi-crystalline state and also development of new software, tailor-made for the special needs of electron crystallography. Moreover, these developments have been accompanied by a now available new generation of computer controlled electron microscopes equipped with high-coherent field-emission sources, cryo-specimen holders, ultra-fast CCD cameras, imaging plates, energy filters and even correctors for electron optical distortions. Thus, a fast and semi-automatic data acquisition from small sample areas, similar to what we today know from imaging plates diffraction systems in X-ray crystallography, can be envisioned for the very near future. This progress clearly shows that the contribution of electron crystallography is quite unique, as it enables to reveal the intimate structure of samples with high accuracy but on much smaller samples than have ever been investigated by X-ray diffraction. As a tribute to these tremendous recent achievements, this NATO Advanced Study Institute was devoted to the novel approaches of electron crystallography for structure determination of nanosized materials. |
| 590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
| Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Lábár, János L. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 306761 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Zou, Xiaodong. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 306762 |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
| 9 (RLIN) | 299170 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9781402039188 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
| Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3920-4">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3920-4</a> |
| Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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