TEST - Catálogo BURRF
   

Nanomechanics of Materials and Structures / (Registro nro. 281336)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 04411nam a22003975i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 281336
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20170705134205.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150903s2006 ne | o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9781402039515
-- 9781402039515
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/1402039514
Fuente del número o código doi
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000334566
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
Nivel de reglas en descripción bibliográfica 201509030215
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201404120812
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201404090551
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
-- 201402041151
-- staff
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen MX-SnUAN
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia transcriptor MX-SnUAN
Normas de descripción rda
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación TK7800-8360
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Chuang, T. -J.
Término indicativo de función/relación editor.
9 (RLIN) 306929
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Nanomechanics of Materials and Structures /
Mención de responsabilidad, etc. edited by T. -J. Chuang, P. M. Anderson, M. -K. Wu, S. Hsieh.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Dordrecht :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer Netherlands,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2006.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión xvii, 323 páginas
Otras características físicas recurso en línea.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Summary of Group Discussions -- Nano Mechanics/Materials Research -- An Ab-Initio Study of Mechanical Behavior for (A?-O)n Nanorods -- Phase Field Modeling of Solidification and Melting of a Confined Nano-Particle -- Friction-Induced Nucleation of Nanocrystals -- Modeling of Carbon Nanotubes and Their Composites -- On the Tensile Strength of a Solid Nanowire -- Fracture Nucleation in Single-Wall Carbon Nanotubes -- Multiscale Modeling of a Germanium Quantum Dot in Silicon -- Nanomechanics of Biological Single Crystals -- Nano/Micro Fluidic Systems -- Mechanical Characterization of a Single Nanofiber -- Atomistic Studies of Flaw Tolerant Nanoscale Structural Links in Biological Materials -- Towards the Integration of Nano/Micro Devices Using MEMS Technology -- Atomic Scale Mechanisms of Stress Production in Elastomers -- Dynamic Indentation of Polymers Using the Atomic Force Microscope -- Fabrication and Simulation of Nanostructures on Silicon by Laser Assisted Direct Imprint Technique -- Structure and Stress Evolution Due to Medium Energy Ion Bombardment of Silicon -- Mechanics of Nanostructures -- Residual Stresses in Nano-Film/Substrate Systems -- Nanomechanics of Crack Front Mobility -- Finite Temperature Coupled Atomistic/Continuum Discrete Dislocation Dynamics Simulation of Nanoindentation -- Static Atomistic Simulations of Nanoindentation and Determination of Nanohardness -- Electric Field-Directed Patterning of Molecules on a Solid Surface -- Dynamics of Dislocations in Thin Colloidal Crystals -- Mesoscopic Length Scales for Deformed Nanostructures -- Rough Surface Plasticity and Adhesion across Length Scales -- Modeling the Effect of Texture on the Deformation Mechanisms of Nanocrystalline Materials at the Atomistic Scale -- Modeling the Tribochemical Aspects of Friction and Gradual Wear of DLC Films.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. This volume provides a critical assessment of the current state-of-the-art in nanomechanics, with particular application to mechanical properties and structural integrity associated with MEMS, NEMS, nanomanufacturing, microelectronics, nanotechnology, biotechnology, and microsystems. It contains articles by leading international experts in these fields. A special workshop summary identifies major gaps in present knowledge, barriers to applications, and critical research areas for rapid development of enabling technologies. This book is an excellent reference book for both academic and industrial researchers working in the fields of nanotechnology, biotechnology, engineering, nanotribology and mechanics, materials science and engineering, computer science, and information technology. It will also be of interest to those pursuing research in NEMS, MEMS, mesomanufacturing, sensors, actuators, controllers, micromotors, and other microsystems in aerospace, defense, and military systems.
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Anderson, P. M.
Término indicativo de función/relación editor.
9 (RLIN) 306930
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Wu, M. -K.
Término indicativo de función/relación editor.
9 (RLIN) 306931
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Hsieh, S.
Término indicativo de función/relación editor.
9 (RLIN) 306932
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9781402039508
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3951-4">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3951-4</a>
Nota pública Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL)
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

No hay ítems disponibles.

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