Nanomechanics of Materials and Structures / (Registro nro. 281336)
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000 -CABECERA | |
---|---|
campo de control de longitud fija | 04411nam a22003975i 4500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | 281336 |
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | MX-SnUAN |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20170705134205.0 |
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 150903s2006 ne | o |||| 0|eng d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
Número Internacional Estándar del Libro | 9781402039515 |
-- | 9781402039515 |
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
Número estándar o código | 10.1007/1402039514 |
Fuente del número o código | doi |
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
Número de control de sistema | vtls000334566 |
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030215 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404120812 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404090551 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
-- | 201402041151 |
-- | staff |
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
Lengua de catalogación | spa |
Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
Normas de descripción | rda |
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
Número de clasificación | TK7800-8360 |
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Chuang, T. -J. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 306929 |
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
Título | Nanomechanics of Materials and Structures / |
Mención de responsabilidad, etc. | edited by T. -J. Chuang, P. M. Anderson, M. -K. Wu, S. Hsieh. |
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Dordrecht : |
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer Netherlands, |
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2006. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | xvii, 323 páginas |
Otras características físicas | recurso en línea. |
336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
Término de tipo de contenido | texto |
Código de tipo de contenido | txt |
Fuente | rdacontent |
337 ## - TIPO DE MEDIO | |
Nombre/término del tipo de medio | computadora |
Código del tipo de medio | c |
Fuente | rdamedia |
338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
Código del tipo de soporte | cr |
Fuente | rdacarrier |
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
Tipo de archivo | archivo de texto |
Formato de codificación | |
Fuente | rda |
500 ## - NOTA GENERAL | |
Nota general | Springer eBooks |
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
Nota de contenido con formato | Summary of Group Discussions -- Nano Mechanics/Materials Research -- An Ab-Initio Study of Mechanical Behavior for (A?-O)n Nanorods -- Phase Field Modeling of Solidification and Melting of a Confined Nano-Particle -- Friction-Induced Nucleation of Nanocrystals -- Modeling of Carbon Nanotubes and Their Composites -- On the Tensile Strength of a Solid Nanowire -- Fracture Nucleation in Single-Wall Carbon Nanotubes -- Multiscale Modeling of a Germanium Quantum Dot in Silicon -- Nanomechanics of Biological Single Crystals -- Nano/Micro Fluidic Systems -- Mechanical Characterization of a Single Nanofiber -- Atomistic Studies of Flaw Tolerant Nanoscale Structural Links in Biological Materials -- Towards the Integration of Nano/Micro Devices Using MEMS Technology -- Atomic Scale Mechanisms of Stress Production in Elastomers -- Dynamic Indentation of Polymers Using the Atomic Force Microscope -- Fabrication and Simulation of Nanostructures on Silicon by Laser Assisted Direct Imprint Technique -- Structure and Stress Evolution Due to Medium Energy Ion Bombardment of Silicon -- Mechanics of Nanostructures -- Residual Stresses in Nano-Film/Substrate Systems -- Nanomechanics of Crack Front Mobility -- Finite Temperature Coupled Atomistic/Continuum Discrete Dislocation Dynamics Simulation of Nanoindentation -- Static Atomistic Simulations of Nanoindentation and Determination of Nanohardness -- Electric Field-Directed Patterning of Molecules on a Solid Surface -- Dynamics of Dislocations in Thin Colloidal Crystals -- Mesoscopic Length Scales for Deformed Nanostructures -- Rough Surface Plasticity and Adhesion across Length Scales -- Modeling the Effect of Texture on the Deformation Mechanisms of Nanocrystalline Materials at the Atomistic Scale -- Modeling the Tribochemical Aspects of Friction and Gradual Wear of DLC Films. |
520 ## - SUMARIO, ETC. | |
Sumario, etc. | This volume provides a critical assessment of the current state-of-the-art in nanomechanics, with particular application to mechanical properties and structural integrity associated with MEMS, NEMS, nanomanufacturing, microelectronics, nanotechnology, biotechnology, and microsystems. It contains articles by leading international experts in these fields. A special workshop summary identifies major gaps in present knowledge, barriers to applications, and critical research areas for rapid development of enabling technologies. This book is an excellent reference book for both academic and industrial researchers working in the fields of nanotechnology, biotechnology, engineering, nanotribology and mechanics, materials science and engineering, computer science, and information technology. It will also be of interest to those pursuing research in NEMS, MEMS, mesomanufacturing, sensors, actuators, controllers, micromotors, and other microsystems in aerospace, defense, and military systems. |
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Anderson, P. M. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 306930 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Wu, M. -K. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 306931 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Hsieh, S. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 306932 |
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
9 (RLIN) | 299170 |
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
Número Internacional Estándar del Libro | 9781402039508 |
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3951-4">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3951-4</a> |
Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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