Radiation Effects on Embedded Systems / (Registro nro. 282024)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 02789nam a22003855i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 282024 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | MX-SnUAN |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20160429154130.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 150903s2007 ne | o |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9781402056468 |
| -- | 9781402056468 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
| Número estándar o código | 10.1007/9781402056468 |
| Fuente del número o código | doi |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control de sistema | vtls000335277 |
| 039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
| Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030236 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404300259 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| -- | 201402041256 |
| -- | staff |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
| Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
| Lengua de catalogación | spa |
| Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
| Normas de descripción | rda |
| 050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
| Número de clasificación | TK7888.4 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | VELAZCO, RAOUL. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 308288 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
| Título | Radiation Effects on Embedded Systems / |
| Mención de responsabilidad, etc. | edited by RAOUL VELAZCO, PASCAL FOUILLAT, RICARDO REIS. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Dordrecht : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer Netherlands, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2007. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | viii, 269 páginas |
| Otras características físicas | recurso en línea. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
| Término de tipo de contenido | texto |
| Código de tipo de contenido | txt |
| Fuente | rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO | |
| Nombre/término del tipo de medio | computadora |
| Código del tipo de medio | c |
| Fuente | rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
| Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
| Código del tipo de soporte | cr |
| Fuente | rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
| Tipo de archivo | archivo de texto |
| Formato de codificación | |
| Fuente | rda |
| 500 ## - NOTA GENERAL | |
| Nota general | Springer eBooks |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
| Nota de contenido con formato | Radiation Space Environment -- Radiation Effects in Microelectronics -- In-flight Anomalies on Electronic Devices -- Multi-level Fault Effects Evaluation -- Effects of Radiation on Analog and Mixed-Signal Circuits -- Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing -- Design Hardening Methodologies for ASICs -- Fault Tolerance in Programmable Circuits -- Automatic Tools for Design Hardening -- Test Facilities for SEE and Dose Testing -- Error Rate Prediction of Digital Architectures: Test Methodology and Tools -- Using the SEEM Software for Laser SET Testing and Analysis. |
| 520 ## - SUMARIO, ETC. | |
| Sumario, etc. | Radiation Effects on Embedded Systems aims at providing the reader with the major guidelines for coping with radiation effects on components supposed to be included in today’s applications devoted to operate in space, but also in the atmosphere at high altitude or at ground level. It contains a set of chapters based on the tutorials presented at the International School on Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Applications (SERESSA) that was held in Manaus, Brazil, from 20 to 25 November 2005. This book will provide all IC engineers with useful information regarding outside (environmental) influences on their designs and is an excellent reference. |
| 590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
| Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | FOUILLAT, PASCAL. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 308289 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Reis, Ricardo. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 300500 |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
| 9 (RLIN) | 299170 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9781402056451 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
| Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5646-8">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5646-8</a> |
| Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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