Handbook of Microscopy for Nanotechnology / (Registro nro. 283459)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 04097nam a22003615i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 283459 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | MX-SnUAN |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20160429154237.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 150903s2005 xxu| o |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9781402080067 |
| -- | 9781402080067 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
| Número estándar o código | 10.1007/1402080069 |
| Fuente del número o código | doi |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control de sistema | vtls000335866 |
| 039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
| Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030204 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404120938 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404090716 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| -- | 201402041334 |
| -- | staff |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
| Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
| Lengua de catalogación | spa |
| Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
| Normas de descripción | rda |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Yao, Nan. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 310989 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
| Título | Handbook of Microscopy for Nanotechnology / |
| Mención de responsabilidad, etc. | edited by Nan Yao, Zhong Lin Wang. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Boston, MA : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer US, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2005. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | xx, 731 páginas |
| Otras características físicas | recurso en línea. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
| Término de tipo de contenido | texto |
| Código de tipo de contenido | txt |
| Fuente | rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO | |
| Nombre/término del tipo de medio | computadora |
| Código del tipo de medio | c |
| Fuente | rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
| Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
| Código del tipo de soporte | cr |
| Fuente | rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
| Tipo de archivo | archivo de texto |
| Formato de codificación | |
| Fuente | rda |
| 500 ## - NOTA GENERAL | |
| Nota general | Springer eBooks |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
| Nota de contenido con formato | Optical Microscopy, Scanning Probe Microscopy, Ion Microscopy and Nanofabrication -- Confocal Scanning Optical Microscopy and Nanotechnology -- Scanning Near-Field Optical Microscopy in Nanosciences -- Scanning Tunneling Microscopy -- Visualization of Nanostructures with Atomic Force Microscopy -- Scanning Probe Microscopy for Nanoscale Manipulation and Patterning -- Scanning Thermal and Thermoelectric Microscopy -- Imaging Secondary Ion Mass Spectrometry -- Atom Probe Tomography -- Focused Ion Beam System—a Multifunctional Tool for Nanotechnology -- Electron Beam Lithography -- Electron Microscopy -- High-Resolution Scanning Electron Microscopy -- High Spatial Resolution Quantitative Electron Beam Microanalysis for Nanoscale Materials -- Characterization of Nano-Crystalline Materials Using Electron Backscatter Diffraction in the Scanning Electron Microscope -- High Resolution Transmission Electron Microscopy -- Scanning Transmission Electron Microscopy -- In-Situ Electron Microscopy for Nanomeasurements -- Environmental Transmission Electron Microscopy in Nanotechnology -- Electron Nanocrystallography -- Tomography Using the Transmission Electron Microscope -- Off-Axis Electron Holography -- SUB-NM Spatially Resolved Electron Energy-Loss Spectroscopy -- Imaging Magnetic Structures Using TEM. |
| 520 ## - SUMARIO, ETC. | |
| Sumario, etc. | Nanostructured materials take on an enormously rich variety of properties and promise exciting new advances in micromechanical, electronic, and magnetic devices as well as in molecular fabrications. The structure-composition-processing-property relationships for these sub 100 nm-sized materials can only be understood by employing an array of modern microscopy and microanalysis tools. Handbook of Microscopy for Nanotechnology aims to provide an overview of the basics and applications of various microscopy techniques for nanotechnology. This handbook highlights various key microcopic techniques and their applications in this fast-growing field. Topics to be covered include the following: scanning near field optical microscopy, confocal optical microscopy, atomic force microscopy, magnetic force microscopy, scanning turning microscopy, high-resolution scanning electron microscopy, orientational imaging microscopy, high-resolution transmission electron microscopy, scanning transmission electron microscopy, environmental transmission electron microscopy, quantitative electron diffraction, Lorentz microscopy, electron holography, 3-D transmission electron microscopy, high-spatial resolution quantitative microanalysis, electron-energy-loss spectroscopy and spectral imaging, focused ion beam, secondary ion microscopy, and field ion microscopy. |
| 590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
| Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Wang, Zhong Lin. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 300484 |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
| 9 (RLIN) | 299170 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9781402080036 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
| Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-8006-9">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-8006-9</a> |
| Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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