TEST - Catálogo BURRF
   

Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design / (Registro nro. 285732)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 04946nam a22004095i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 285732
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20160429154420.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150903s2010 xxu| o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9781441909503
-- 9781441909503
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/9781441909503
Fuente del número o código doi
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000338149
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
Nivel de reglas en descripción bibliográfica 201509030321
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201404300341
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
-- 201402060903
-- staff
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen MX-SnUAN
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia transcriptor MX-SnUAN
Normas de descripción rda
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación TK7888.4
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Jayakumar, Nikhil.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 314066
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design /
Mención de responsabilidad, etc. by Nikhil Jayakumar, Suganth Paul, Rajesh Garg, Kanupriya Gulati, Sunil P. Khatri.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Boston, MA :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer US,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2010.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Otras características físicas recurso en línea.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Leakage Reduction Techniques: Minimizing Leakage In Modern Day DSM Processes -- Existing Leakage Minimization Approaches -- Computing Leakage Current Distributions -- Finding a Minimal Leakage Vector in the Presence of Random PVT Variations Using Signal Probabilities -- The HL Approach: A Low-Leakage ASIC Design Methodology -- Simultaneous Input Vector Control and Circuit Modification -- Optimum Reverse Body Biasing for Leakage Minimization -- I: Conclusions and Future Directions -- Practical Methodologies for Sub-threshold Circuit Design: Exploiting Leakage Through Sub-threshold Circuit Design -- Exploiting Leakage: Sub-threshold Circuit Design -- Adaptive Body Biasing to Compensate for PVT Variations -- Optimum VDD for Minimum Energy -- Reclaiming the Sub-threshold Speed Penalty Through Micropipelining -- II: Conclusions and Future Directions -- Design of a Sub-threshold BFSK Transmitter IC -- Design of the Chip -- Implementation of the Chip -- Experimental Results.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design Nikhil Jayakumar, Suganth Paul, Rajesh Garg, Kanupriya Gulati and Sunil P. Khatri Power consumption of VLSI (Very Large Scale Integrated) circuits has been growing at an alarmingly rapid rate. This increase in power consumption, coupled with the increasing demand for portable/hand-held electronics, has made power consumption a dominant concern in the design of VLSI circuits today. Traditionally, dynamic (switching) power has dominated the total power consumption of an IC. However, due to current scaling trends, leakage power has now become a major component of the total power consumption in VLSI circuits. Leakage power reduction is especially important in portable/hand-held electronics such as cell-phones and PDAs. This book presents techniques aimed at reducing and exploiting leakage power in digital VLSI ICs. The first part of this book presents several approaches to reduce leakage in a circuit. The second part of this book shows readers how to turn the leakage problem into an opportunity, through the use of sub-threshold logic, with adaptive body bias to make the designs robust to variations. The third part of this book presents design and implementation details of a sub-threshold IC, using the ideas presented in the second part of this book. Provides a variety of approaches to control and exploit leakage, including implicit approaches to find the leakage of all input vectors in a design, techniques to find the minimum leakage vector of a design (with and without circuit modification), ASIC approaches to drastically reduce leakage, and methods to find the optimal reverse bias voltage to maximally reduce leakage. Presents a variation-tolerant, practical design methodology to implement sub-threshold logic using closed-loop adaptive body bias (ABB) and Network of PLA (NPLA) based design. In addition, asynchronous micropipelining techniques are presented, to substantially reclaim the speed penalty of sub-threshold design. Validates the proposed ABB and NPLA sub-threshold design approach by implementing a BFSK transmitter design in the proposed design style. Test results from the fabricated IC are provided as well, indicating that a power improvement of 20X can be obtained for a 0.25um process (projected power improvements are 100X to 500X for 65nm processes).
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Paul, Suganth.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 314067
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Garg, Rajesh.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 313902
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Gulati, Kanupriya.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 313336
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Khatri, Sunil P.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 313903
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9781441909497
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0950-3">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0950-3</a>
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942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

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