Reliability of Microtechnology : (Registro nro. 286075)
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000 -CABECERA | |
---|---|
campo de control de longitud fija | 03160nam a22004335i 4500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | 286075 |
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | MX-SnUAN |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20170705134212.0 |
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 150903s2011 xxu| o |||| 0|eng d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
Número Internacional Estándar del Libro | 9781441957603 |
-- | 9781441957603 |
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
Número estándar o código | 10.1007/9781441957603 |
Fuente del número o código | doi |
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
Número de control de sistema | vtls000338477 |
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030815 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404300346 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
-- | 201402060911 |
-- | staff |
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
Lengua de catalogación | spa |
Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
Normas de descripción | rda |
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
Número de clasificación | TK7800-8360 |
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Liu, Johan. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 314560 |
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
Título | Reliability of Microtechnology : |
Resto del título | Interconnects, Devices and Systems / |
Mención de responsabilidad, etc. | by Johan Liu, Olli Salmela, Jussi Sarkka, James E. Morris, Per-Erik Tegehall, Cristina Andersson. |
250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN | |
Mención de edición | 1. |
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | New York, NY : |
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer New York, |
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2011. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | xiii, 204 páginas 50 ilustraciones |
Otras características físicas | recurso en línea. |
336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
Término de tipo de contenido | texto |
Código de tipo de contenido | txt |
Fuente | rdacontent |
337 ## - TIPO DE MEDIO | |
Nombre/término del tipo de medio | computadora |
Código del tipo de medio | c |
Fuente | rdamedia |
338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
Código del tipo de soporte | cr |
Fuente | rdacarrier |
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
Tipo de archivo | archivo de texto |
Formato de codificación | |
Fuente | rda |
500 ## - NOTA GENERAL | |
Nota general | Springer eBooks |
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
Nota de contenido con formato | Introduction to Reliability and its Importance -- Reliability Metrology -- General Failure Mechanisms of Microsystems -- Solder and Conductive Adhesive Joint Reliability -- Accelerated Testing -- Reliability Design for Manufacturability -- Component Reliability -- System Level Reliability -- Reliability and Quality Management of Microsystem -- Experimental Tools for Reliability Analysis. |
520 ## - SUMARIO, ETC. | |
Sumario, etc. | Reliability of Microtechnology discusses the reliability of microtechnology products from the bottom up, beginning with devices and extending to systems. The book's focus includes but is not limited to reliability issues of interconnects, the methodology of reliability concepts and general failure mechanisms. Specific failure modes in solder and conductive adhesives are discussed at great length. Coverage of accelerated testing, component and system level reliability, and reliability design for manufacturability are also described in detail. The book also: Discusses the general failure mechanisms of microsystems on a component level Offers comprehensive coverage of solder joint reliability at the microsystems level Analyzes?quality issues and manufacturing at the microsystems level Reliability of Microtechnology is an ideal volume for researchers and professional engineers working in reliability and manufacturing. The book also includes exercises and detailed solutions at the end of each chapter. |
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Salmela, Olli. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 314561 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Sarkka, Jussi. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 314562 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Morris, James E. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 304429 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Tegehall, Per-Erik. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 314563 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Andersson, Cristina. |
Término indicativo de función/relación | autor |
9 (RLIN) | 314564 |
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
9 (RLIN) | 299170 |
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
Número Internacional Estándar del Libro | 9781441957597 |
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5760-3">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5760-3</a> |
Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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