MEMS and Nanotechnology, Volume 4 : (Registro nro. 286927)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 04520nam a22003735i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 286927 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | MX-SnUAN |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20160429154523.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 150903s2011 xxu| o |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9781461402107 |
| -- | 9781461402107 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
| Número estándar o código | 10.1007/9781461402107 |
| Fuente del número o código | doi |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control de sistema | vtls000340221 |
| 039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
| Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030843 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404300412 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| -- | 201402061019 |
| -- | staff |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
| Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
| Lengua de catalogación | spa |
| Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
| Normas de descripción | rda |
| 050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
| Número de clasificación | T174.7 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Proulx, Tom. |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 315871 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
| Título | MEMS and Nanotechnology, Volume 4 : |
| Resto del título | Proceedings of the 2011 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics / |
| Mención de responsabilidad, etc. | edited by Tom Proulx. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | New York, NY : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer New York : |
| -- | Imprint: Springer, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2011. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | viii, 192 páginas |
| Otras características físicas | recurso en línea. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
| Término de tipo de contenido | texto |
| Código de tipo de contenido | txt |
| Fuente | rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO | |
| Nombre/término del tipo de medio | computadora |
| Código del tipo de medio | c |
| Fuente | rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
| Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
| Código del tipo de soporte | cr |
| Fuente | rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
| Tipo de archivo | archivo de texto |
| Formato de codificación | |
| Fuente | rda |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE | |
| Mención de serie | Conference Proceedings of the Society for Experimental Mechanics Series, |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas | 2191-5644 |
| 500 ## - NOTA GENERAL | |
| Nota general | Springer eBooks |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
| Nota de contenido con formato | Integrated Process Feasibility of Hard-mask for Tight Pitch Interconnects Fabrication -- Thermoelectric Effects in Current Induced Crystallization of Silicon Microstructures -- Evaluation of Resistance Measurement Techniques in Carbon Black and Carbon -- Nano-tubes Reinforced Epoxy -- A Nano-tensile Tester for Creep Studies -- The Measurement of Cyclic Creep Behavior in Copper Thin Film Using Microtensile Testing -- New Insight Into Pile-Up in Thin Film Indentation -- Measuring Substrate-independent Young’s Modulus of Thin Films -- Analysis of Spherical Indentation of an Elastic Bilayer Using a Modified Perturbation Approach -- Nano-indentation Studies of Polyglactin 910 Monofilament Sutures -- Analytical Approach for the Determination of Nanomechanical Properties for Metals -- Advances in Thin Film Indentation -- Cyclic Nanoindentation Shakedown of Muscovite and its Elastic Modulus Measurement -- Assessment of Digital Holography for 3D-shape Measurement of Micro Deep Drawing Parts in Comparison to Confocal Microscopy -- Full-field Bulge Testing Using Global Digital Image Correlation -- Experimental Investigation of Deformation Mechanisms Present in Ultrafine-grained Metals -- Characterization of a Variation on AFIT's Tunable MEMS Cantilever Array Metamaterial -- MEMS for Real-time Infrared Imaging -- New Insights Into Enhancing Microcantilever MEMS Sensors -- A Miniature MRI-compatible Fiber-optic Force Sensor Utilizing Fabry-Perot Interferometer -- Micromechanical Structure With Stable Linear Positive and Negative Stiffness -- Terahertz Metamaterial Structures Fabricated by PolyMUMPs -- Investigations Into 1D and 2D Metamaterials at Infrared Wavelengths -- MEMS Integrated Metamaterials With Variable Resonance Operating at RF Frequencies -- Creep Measurements in Free-standing Thin Metal Film Micro-cantilever Bending -- MEMS Reliability for Space Applications by Elimination of Potential Failure Modes Through Analysis -- Analysis and Evaluation Methods Associated With the Application of Compliant Thermal Interface Materials in Multi-chip Electronic Board Assemblies -- Hierarchical Reliability Model for Life Prediction of Actively Cooled LED-based Luminaire -- Direct Determination of Interfacial Traction-separation Relations in Chip-package Systems. |
| 520 ## - SUMARIO, ETC. | |
| Sumario, etc. | MEMS and Nanotechnology represents one of eight volumes of technical papers presented at the Society for Experimental Mechanics Annual Conference & Exposition on Experimental and Applied Mechanics, held at Uncasville, Connecticut, June 13-16, 2011. The full set of proceedings also includes volumes on Dynamic Behavior of Materials, Mechanics of Biological Systems and Materials, Mechanics of Time-Dependent Materials and Processes in Conventional and Multifunctional Materials; Optical Measurements, Modeling and, Metrology; Experimental and Applied Mechanics, Thermomechanics and Infra-Red Imaging, and Engineering Applications of Residual Stress. |
| 590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
| Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
| 9 (RLIN) | 299170 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9781461402091 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
| Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0210-7">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0210-7</a> |
| Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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