TEST - Catálogo BURRF
   

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability / (Registro nro. 287107)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 03371nam a22003735i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 287107
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20160429154530.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150903s2012 xxu| o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9781441999764
-- 9781441999764
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/9781441999764
Fuente del número o código doi
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000339486
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
Nivel de reglas en descripción bibliográfica 201509030838
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201404300400
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
-- 201402060936
-- staff
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen MX-SnUAN
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia transcriptor MX-SnUAN
Normas de descripción rda
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación TK7888.4
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Eggersglüß, Stephan.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 316135
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability /
Mención de responsabilidad, etc. by Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Boston, MA :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer US,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2012.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión xviii, 193 páginas 55 ilustraciones
Otras características físicas recurso en línea.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Part I: Preliminaries and Previous Work -- Circuits and Testing -- Boolean Satisfiability -- ATPG Based on Boolean Satisfiability -- Part II: New SAT Techniques and their Application in ATPG -- Dynamic Clause Activation -- Circuit-based Dynamic Learning -- Part III: High Quality Delay Test Generation -- High Quality ATPG for Transition Faults -- Path Delay Fault Model -- Summary and Outlook.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT).  A fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework is presented which is also able to generate high-quality delay tests such as robust path delay tests, as well as tests with long propagation paths to detect small delay defects. The aim of the techniques and methodologies presented in this book is to improve SAT-based ATPG, in order to make it applicable in industrial practice. Readers will learn to improve the performance and robustness of the overall test generation process, so that the ATPG algorithm reliably will generate test patterns for most targeted faults in acceptable run time to meet the high fault coverage demands of industry. The techniques and improvements presented in this book provide the following advantages: Provides a comprehensive introduction to test generation and Boolean Satisfiability (SAT); Describes a highly fault efficient SAT-based ATPG framework; Introduces circuit-oriented SAT solving techniques, which make use of structural information and are able to accelerate the search process significantly; Provides SAT formulations for the prevalent delay faults models, in addition to the classical stuck-at fault model; Includes an industrial perspective on the state-of-the-art in the testing, along with SAT; two topics typically distinguished from each other.
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Drechsler, Rolf.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 302301
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9781441999757
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9976-4">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9976-4</a>
Nota pública Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL)
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

No hay ítems disponibles.

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Soportado en Koha