TEST - Catálogo BURRF
   

Interfacial Compatibility in Microelectronics : (Registro nro. 287441)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 03377nam a22004335i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 287441
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20160429154548.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150903s2012 xxk| o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9781447124702
-- 9781447124702
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/9781447124702
Fuente del número o código doi
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000339597
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
Nivel de reglas en descripción bibliográfica 201509030317
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201404300402
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
-- 201402060939
-- staff
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen MX-SnUAN
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia transcriptor MX-SnUAN
Normas de descripción rda
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación T174.7
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Laurila, Tomi.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 316623
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Interfacial Compatibility in Microelectronics :
Resto del título Moving Away from the Trial and Error Approach /
Mención de responsabilidad, etc. by Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright London :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer London,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2012.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión Ix, 217 páginas 128 ilustraciones, 15 ilustraciones en color.
Otras características físicas recurso en línea.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Microsystems,
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas 1389-2134
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Introduction: Away from trial and error methods -- Materials and interfaces in Microsystems -- Introduction to mechanics of materials -- Introduction to thermodynamic-kinetic method -- Interfacial adhesion in polymer systems -- Evolution of different types of interfacial structures.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. Interfaces between dissimilar materials are met everywhere in microelectronics and microsystems. In order to ensure faultless operation of these highly sophisticated structures, it is mandatory to have fundamental understanding of materials and their interactions in the system. In this difficult task, the “traditional” method of trial and error is not feasible anymore; it takes too much time and repeated efforts. In Interfacial Compatibility in Microelectronics, an alternative approach is introduced. In this revised method four fundamental disciplines are combined: i) thermodynamics of materials ii) reaction kinetics iii) theory of microstructures and iv) stress and strain analysis. The advantages of the method are illustrated in Interfacial Compatibility in Microelectronics which includes: •solutions to several common reliability issues in microsystem technology, •methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials and •an approach to DFR based on deep understanding in materials science, rather than on the use of mechanistic tools, such as FMEA. Interfacial Compatibility in Microelectronics provides a clear and methodical resource for graduates and postgraduates alike.    
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Vuorinen, Vesa.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 316624
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Paulasto-Kröckel, Mervi.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 316625
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Turunen, Markus.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 316626
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Mattila, Toni T.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 316627
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Kivilahti, Jorma.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 316628
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9781447124696
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-2470-2">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-2470-2</a>
Nota pública Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL)
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

No hay ítems disponibles.

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