MEMS and Nanotechnology, Volume 6 : (Registro nro. 288047)
[ vista simple ]
000 -CABECERA | |
---|---|
campo de control de longitud fija | 03013nam a22003975i 4500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | 288047 |
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | MX-SnUAN |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20160429154613.0 |
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 150903s2013 xxu| o |||| 0|eng d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
Número Internacional Estándar del Libro | 9781461444367 |
-- | 9781461444367 |
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
Número estándar o código | 10.1007/9781461444367 |
Fuente del número o código | doi |
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
Número de control de sistema | vtls000341308 |
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030829 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201405050227 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
-- | 201402061056 |
-- | staff |
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
Lengua de catalogación | spa |
Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
Normas de descripción | rda |
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
Número de clasificación | T174.7 |
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Shaw, Gordon A. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 317584 |
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
Título | MEMS and Nanotechnology, Volume 6 : |
Resto del título | Proceedings of the 2012 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics / |
Mención de responsabilidad, etc. | edited by Gordon A. Shaw, Barton C. Prorok, LaVern A. Starman. |
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | New York, NY : |
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer New York : |
-- | Imprint: Springer, |
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2013. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | viii, 154 páginas 139 ilustraciones |
Otras características físicas | recurso en línea. |
336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
Término de tipo de contenido | texto |
Código de tipo de contenido | txt |
Fuente | rdacontent |
337 ## - TIPO DE MEDIO | |
Nombre/término del tipo de medio | computadora |
Código del tipo de medio | c |
Fuente | rdamedia |
338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
Código del tipo de soporte | cr |
Fuente | rdacarrier |
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
Tipo de archivo | archivo de texto |
Formato de codificación | |
Fuente | rda |
490 0# - MENCIÓN DE SERIE | |
Mención de serie | Conference Proceedings of the Society for Experimental Mechanics Series, |
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas | 2191-5644 |
500 ## - NOTA GENERAL | |
Nota general | Springer eBooks |
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
Nota de contenido con formato | From the Contents: Silicon Carbide High Temperature MEMS Capacitive Strain Sensor -- Characterizing External Resistive, Inductive and Capacitive Loads for Micro-switches -- KEYNOTE: Principles Involved in Interpreting Single-Molecule Force Measurement of Biomolecules -- KEYNOTE: Measurement of the Gold-Gold Bond Rupture Force at 4 K in a Single-atom Chain Using Photon-momentum-based Force Calibration -- A Precision Force Microscope for Biophysics -- DNA Molecular Recognition Using AFM Nanometrology -- Hydrodynamic Force Compensation for Single-molecule Mechanical Testing Using Colloidal Probe Atomic Force Microscopy -- New Insight into Pile-Up in Thin Film Indentation. |
520 ## - SUMARIO, ETC. | |
Sumario, etc. | MEMS and Nanotechnology, Volume 6: Proceedings of the 2012 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics, the sixth volume of seven from the Conference, brings together 23 contributions to this important area of research and engineering. The collection presents early findings and case studies on fundamental and applied aspects of Experimental and Applied Mechanics, including papers on: Devices & Fabrication Measurement Challenges in Single Molecule/Single Atom Mechanical Testing Nanoindentation Size Effects in Metals Optical Methods Reliability, Residual Stress & Tribology |
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Prorok, Barton C. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 317516 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Starman, LaVern A. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 317585 |
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
9 (RLIN) | 299170 |
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
Número Internacional Estándar del Libro | 9781461444350 |
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4436-7">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4436-7</a> |
Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
No hay ítems disponibles.