TEST - Catálogo BURRF
   

Production Planning and Control for Semiconductor Wafer Fabrication Facilities : (Registro nro. 288277)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 02782nam a22003975i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 288277
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20160429154621.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150903s2013 xxu| o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9781461444725
-- 9781461444725
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/9781461444725
Fuente del número o código doi
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000341321
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
Nivel de reglas en descripción bibliográfica 201509030829
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201405050227
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
-- 201402061056
-- staff
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen MX-SnUAN
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia transcriptor MX-SnUAN
Normas de descripción rda
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación HD30.23
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Mönch, Lars.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 317915
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Production Planning and Control for Semiconductor Wafer Fabrication Facilities :
Resto del título Modeling, Analysis, and Systems /
Mención de responsabilidad, etc. by Lars Mönch, John W. Fowler, Scott J. Mason.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright New York, NY :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer New York :
-- Imprint: Springer,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2013.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión xii, 288 páginas 46 ilustraciones, 22 ilustraciones en color.
Otras características físicas recurso en línea.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Operations Research/Computer Science Interfaces Series,
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas 1387-666X ;
Designación de volumen o secuencia 52
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Introduction -- Semiconductor Manufacturing Process Description -- Modeling and Analysis Tools -- Dispatching Approaches -- Deterministic Scheduling Approaches -- Order Release Approaches -- Production Planning Approaches -- Production Planning and Control Systems.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. Over the last fifty-plus years, the increased complexity and speed of integrated circuits have radically changed our world. Today, semiconductor manufacturing is perhaps the most important segment of the global manufacturing sector. As the semiconductor industry has become more competitive, improving planning and control has become a key factor for business success. This book is devoted to production planning and control problems in semiconductor wafer fabrication facilities. It is the first book that takes a comprehensive look at the role of modeling, analysis, and related information systems for such manufacturing systems. The book provides an operations research- and computer science-based introduction into this important field of semiconductor manufacturing-related research.
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Fowler, John W.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 317916
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Mason, Scott J.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 317917
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9781461444718
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4472-5">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4472-5</a>
Nota pública Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL)
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

No hay ítems disponibles.

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Soportado en Koha