Atom Probe Microscopy / (Registro nro. 288919)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 04222nam a22004095i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 288919 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | MX-SnUAN |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20160429154650.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 150903s2012 xxu| o |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9781461434368 |
| -- | 9781461434368 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
| Número estándar o código | 10.1007/9781461434368 |
| Fuente del número o código | doi |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control de sistema | vtls000340998 |
| 039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
| Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030828 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201404300423 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| -- | 201402061049 |
| -- | staff |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
| Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
| Lengua de catalogación | spa |
| Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
| Normas de descripción | rda |
| 050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
| Número de clasificación | TA404.6 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Gault, Baptiste. |
| Término indicativo de función/relación | autor |
| 9 (RLIN) | 318881 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
| Título | Atom Probe Microscopy / |
| Mención de responsabilidad, etc. | by Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. Ringer. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | New York, NY : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer New York : |
| -- | Imprint: Springer, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2012. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | xxiii, 396 páginas 194 ilustraciones, 116 ilustraciones en color. |
| Otras características físicas | recurso en línea. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
| Término de tipo de contenido | texto |
| Código de tipo de contenido | txt |
| Fuente | rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO | |
| Nombre/término del tipo de medio | computadora |
| Código del tipo de medio | c |
| Fuente | rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
| Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
| Código del tipo de soporte | cr |
| Fuente | rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
| Tipo de archivo | archivo de texto |
| Formato de codificación | |
| Fuente | rda |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE | |
| Mención de serie | Springer Series in Materials Science, |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas | 0933-033X ; |
| Designación de volumen o secuencia | 160 |
| 500 ## - NOTA GENERAL | |
| Nota general | Springer eBooks |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
| Nota de contenido con formato | Preface -- Acknowledgements -- List of Acronyms and Abbreviations -- List of Terms -- List of Non-SI Units and Constant Values -- PART I Fundamentals -- 1. Introduction -- 2. Field Ion Microscopy -- 3 From Field Desorption Microscopy to Atom Probe Tomography -- Part II Practical aspects -- 4. Specimen Preparation -- 5. Experimental protocols in Field Ion Microscopy -- 6. Experimental protocols -- 7. Tomographic reconstruction -- PART III Applying atom probe techniques for materials science -- 8. Analysis techniques for atom probe tomography -- 9. Atom probe microscopy and materials science -- Appendices. |
| 520 ## - SUMARIO, ETC. | |
| Sumario, etc. | Atom probe microscopy enables the characterization of materials structure and chemistry in three dimensions with near-atomic resolution. This uniquely powerful technique has been subject to major instrumental advances over the last decade with the development of wide-field-of-view detectors and pulsed-laser-assisted evaporation that have significantly enhanced the instrument’s capabilities. The field is flourishing, and atom probe microscopy is being embraced as a mainstream characterization technique. This book covers all facets of atom probe microscopy—including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography. Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels. It will provide the beginner with the theoretical background and practical information necessary to investigate how materials work using atom probe microscopy techniques. This includes detailed explanations of the fundamentals and the instrumentation, contemporary specimen preparation techniques, experimental details, and an overview of the results that can be obtained. The book emphasizes processes for assessing data quality, and the proper implementation of advanced data mining algorithms. Those more experienced in the technique will benefit from the book as a single comprehensive source of indispensable reference information, tables and techniques. Both beginner and expert will value the way that Atom Probe Microscopy is set out in the context of materials science and engineering, and includes references to key recent research outcomes. Provides the most practical, up-to-date and critical review of atom probe microscopy techniques Presents a detailed description of the analysis tools Includes practical examples of how the technique can be used in materials science research Stands as a must-have reference for any user of atom probe microscopy |
| 590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
| Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Moody, Michael P. |
| Término indicativo de función/relación | autor |
| 9 (RLIN) | 318882 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Cairney, Julie M. |
| Término indicativo de función/relación | autor |
| 9 (RLIN) | 318883 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Ringer, Simon P. |
| Término indicativo de función/relación | autor |
| 9 (RLIN) | 318884 |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
| 9 (RLIN) | 299170 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9781461434351 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
| Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-3436-8">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-3436-8</a> |
| Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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