Precision Nanometrology : (Registro nro. 290994)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 03891nam a22003735i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 290994 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | MX-SnUAN |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20160429154824.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 150903s2010 xxk| o |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9781849962544 |
| -- | 9781849962544 |
| 024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
| Número estándar o código | 10.1007/9781849962544 |
| Fuente del número o código | doi |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control de sistema | vtls000344672 |
| 039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
| Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030424 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
| Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201405050310 |
| Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
| -- | 201402061303 |
| -- | staff |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
| Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
| Lengua de catalogación | spa |
| Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
| Normas de descripción | rda |
| 050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
| Número de clasificación | TJ241 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Gao, Wei. |
| Término indicativo de función/relación | autor |
| 9 (RLIN) | 299166 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
| Título | Precision Nanometrology : |
| Resto del título | Sensors and Measuring Systems for Nanomanufacturing / |
| Mención de responsabilidad, etc. | by Wei Gao. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | London : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer London, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2010. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | xiii, 354 páginas |
| Otras características físicas | recurso en línea. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
| Término de tipo de contenido | texto |
| Código de tipo de contenido | txt |
| Fuente | rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO | |
| Nombre/término del tipo de medio | computadora |
| Código del tipo de medio | c |
| Fuente | rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
| Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
| Código del tipo de soporte | cr |
| Fuente | rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
| Tipo de archivo | archivo de texto |
| Formato de codificación | |
| Fuente | rda |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE | |
| Mención de serie | Springer Series in Advanced Manufacturing, |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas | 1860-5168 ; |
| Designación de volumen o secuencia | 0 |
| 500 ## - NOTA GENERAL | |
| Nota general | Springer eBooks |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
| Nota de contenido con formato | Angle Sensor for Measurement of Surface Slope and Tilt Motion -- Laser Autocollimator for Measurement of Multi-axis Tilt Motion -- Surface Encoder for Measurement of In-plane Motion -- Grating Encoder for Measurement of In-plane and Out-of-plane Motion -- Scanning Multi-probe System for Measurement of Roundness -- Scanning Error Separation System for Measurement of Straightness -- Scanning Micro-stylus System for Measurement of Micro-aspherics -- Large Area Scanning Probe Microscope for Micro-textured Surfaces -- Automatic Alignment Scanning Probe Microscope System for Measurement of 3D Nanostructures -- Scanning Image-sensor System for Measurement of Micro-dimensions. |
| 520 ## - SUMARIO, ETC. | |
| Sumario, etc. | Precision Nanometrology describes the new field of precision nanometrology, which plays an important part in nanoscale manufacturing of semiconductors, optical elements, precision parts and similar items. It pays particular attention to the measurement of surface forms of precision workpieces and to stage motions of precision machines. The first half of the book is dedicated to the description of optical sensors for the measurement of angle and displacement, which are fundamental quantities for precision nanometrology. The second half presents a number of scanning-type measuring systems for surface forms and stage motions. The systems discussed include: • error separation algorithms and systems for measurement of straightness and roundness, • the measurement of micro-aspherics, • systems based on scanning probe microscopy, and • scanning image-sensor systems. Precision Nanometrology presents the fundamental and practical technologies of precision nanometrology with a helpful selection of algorithms, instruments and experimental data. It will be beneficial for researchers, engineers and postgraduate students involved in precision engineering, nanotechnology and manufacturing. The Springer Series in Advanced Manufacturing publishes the best teaching and reference material to support students, educators and practitioners in manufacturing technology and management. This international series includes advanced textbooks, research monographs, edited works and conference proceedings covering all subjects in advanced manufacturing. The series focuses on new topics of interest, new treatments of more traditional areas and coverage of the applications of information and communication technology (ICT) in manufacturing. |
| 590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
| Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
| 9 (RLIN) | 299170 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9781849962537 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
| Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84996-254-4">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84996-254-4</a> |
| Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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