TEST - Catálogo BURRF
   

Debye Screening Length : (Registro nro. 292195)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 03307nam a22003855i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 292195
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20160429154944.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150903s2014 gw | o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9783319013398
-- 9783319013398
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/9783319013398
Fuente del número o código doi
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000345970
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
Nivel de reglas en descripción bibliográfica 201509030910
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201405050327
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
-- 201402070846
-- staff
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen MX-SnUAN
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia transcriptor MX-SnUAN
Normas de descripción rda
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación QC610.9-611.8
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Ghatak, Kamakhya Prasad.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 303856
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Debye Screening Length :
Resto del título Effects of Nanostructured Materials /
Mención de responsabilidad, etc. by Kamakhya Prasad Ghatak, Sitangshu Bhattacharya.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Cham :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer International Publishing :
-- Imprint: Springer,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2014.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión xxxiii, 385 páginas 123 ilustraciones
Otras características físicas recurso en línea.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Springer Tracts in Modern Physics,
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas 0081-3869 ;
Designación de volumen o secuencia 255
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato From the Contents: Part I Influence of Light Waves on the DSL in Optoelectronic Semiconductors -- Part II Influence of Quantum Confinement on the DSL in Non-Parabolic Semiconductors -- Part III Influence of Intense Electric Field on the DSL in Optoelectronic Semiconductors.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. This monograph solely investigates the Debye Screening Length (DSL) in semiconductors and their nano-structures. The materials considered are quantized structures of non-linear optical, III-V, II-VI, Ge, Te, Platinum Antimonide, stressed materials, Bismuth, GaP, Gallium Antimonide, II-V and Bismuth Telluride respectively. The DSL in opto-electronic materials and their quantum confined counterparts is studied in the presence of strong light waves and intense electric fields on the basis of newly formulated electron dispersion laws that control the studies of such quantum effect devices. The suggestions for the experimental determination of 2D and 3D DSL and the importance of measurement of band gap in optoelectronic materials under intense built-in electric field in nano devices and strong external photo excitation (for measuring photon induced physical properties) have also been discussed in this context. The influence of crossed electric and quantizing magnetic fields on the DSL and the DSL in heavily doped semiconductors and their nanostructures has been investigated. This monograph contains 150 open research problems which form the integral part of the text and are useful for both PhD students and researchers in the fields of solid-state sciences, materials science, nano-science and technology and allied fields in addition to the graduate courses in modern semiconductor nanostructures.
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Bhattacharya, Sitangshu.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 303857
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9783319013381
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-01339-8">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-01339-8</a>
Nota pública Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL)
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

No hay ítems disponibles.

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Soportado en Koha