TEST - Catálogo BURRF
   

Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters : (Registro nro. 312574)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 03928nam a22003855i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 312574
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20170705134327.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150903s2011 ne | o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9789048197255
-- 9789048197255
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/9789048197255
Fuente del número o código doi
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000366017
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
Nivel de reglas en descripción bibliográfica 201509031058
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201405070420
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
-- 201402251324
-- staff
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen MX-SnUAN
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia transcriptor MX-SnUAN
Normas de descripción rda
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación TK7800-8360
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Zjajo, Amir.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 354363
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters :
Resto del título Design, Test and Calibration /
Mención de responsabilidad, etc. by Amir Zjajo, José Pineda de Gyvez.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Dordrecht :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer Netherlands,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2011.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión xx, 250 páginas 100 ilustraciones en color.
Otras características físicas recurso en línea.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Analog Circuits and Signal Processing
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Foreword -- Abbrevations.- Symbols -- 1. Introduction -- 2. Analog to Digital Conversion -- 3. Design of Multi-Step A/D Converters -- 4. Multi-Step A/D Converter Testing -- 5. Multi-Step A/D Converter Debugging -- 6. Conclusions and Recommendations -- Appendix -- References -- Index.-.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. With the fast advancement of CMOS fabrication technology, more and more signal-processing functions are implemented in the digital domain for a lower cost, lower power consumption, higher yield, and higher re-configurability. This has recently generated a great demand for low-power, low-voltage A/D converters that can be realized in a mainstream deep-submicron CMOS technology. However, the discrepancies between lithography wavelengths and circuit feature sizes are increasing. Lower power supply voltages significantly reduce noise margins and increase variations in process, device and design parameters. Consequently, it is steadily more difficult to control the fabrication process precisely enough to maintain uniformity. The inherent randomness of materials used in fabrication at nanoscopic scales means that performance will be increasingly variable, not only from die-to-die but also within each individual die. Parametric variability will be compounded by degradation in nanoscale integrated circuits resulting in instability of parameters over time, eventually leading to the development of faults. Process variation cannot be solved by improving manufacturing tolerances; variability must be reduced by new device technology or managed by design in order for scaling to continue. Similarly, within-die performance variation also imposes new challenges for test methods. In an attempt to address these issues, Low-Power High-Resolution Analog-to-Digital Converters specifically focus on: i) improving the power efficiency for the high-speed, and low spurious spectral A/D conversion performance by exploring the potential of low-voltage analog design and calibration techniques, respectively, and ii) development of circuit techniques and algorithms to enhance testing and debugging potential to detect errors dynamically, to isolate and confine faults, and to recover errors continuously. The feasibility of the described methods has been verified by measurements from the silicon prototypes fabricated in standard 180nm, 90nm and 65nm CMOS technology.
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Pineda de Gyvez, José.
Término indicativo de función/relación autor
9 (RLIN) 354364
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9789048197248
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9725-5">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9725-5</a>
Nota pública Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL)
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

No hay ítems disponibles.

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