Uniting Electron Crystallography and Powder Diffraction / (Registro nro. 314013)
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000 -CABECERA | |
---|---|
campo de control de longitud fija | 04952nam a22004215i 4500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | 314013 |
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | MX-SnUAN |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20160429160729.0 |
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 150903s2012 ne | o |||| 0|eng d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
Número Internacional Estándar del Libro | 9789400755802 |
-- | 9789400755802 |
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
Número estándar o código | 10.1007/9789400755802 |
Fuente del número o código | doi |
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
Número de control de sistema | vtls000367607 |
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030716 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201405070444 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
-- | 201402251628 |
-- | staff |
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
Lengua de catalogación | spa |
Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
Normas de descripción | rda |
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
Número de clasificación | QD901-999 |
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Kolb, Ute. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 356459 |
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
Título | Uniting Electron Crystallography and Powder Diffraction / |
Mención de responsabilidad, etc. | edited by Ute Kolb, Kenneth Shankland, Louisa Meshi, Anatoly Avilov, William I.F David. |
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Dordrecht : |
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer Netherlands : |
-- | Imprint: Springer, |
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2012. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | xiii, 434 páginas |
Otras características físicas | recurso en línea. |
336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
Término de tipo de contenido | texto |
Código de tipo de contenido | txt |
Fuente | rdacontent |
337 ## - TIPO DE MEDIO | |
Nombre/término del tipo de medio | computadora |
Código del tipo de medio | c |
Fuente | rdamedia |
338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
Código del tipo de soporte | cr |
Fuente | rdacarrier |
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
Tipo de archivo | archivo de texto |
Formato de codificación | |
Fuente | rda |
490 0# - MENCIÓN DE SERIE | |
Mención de serie | NATO Science for Peace and Security Series B: Physics and Biophysics, |
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas | 1874-6500 |
500 ## - NOTA GENERAL | |
Nota general | Springer eBooks |
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
Nota de contenido con formato | Preface -- Part 1 – Powder Diffraction -- Powder Diffraction: By Decades -- Rietveld Refinement -- Structure Solution - an Overview -- Inorganic Materials -- Organic Compounds -- Laboratory X-ray Diffraction -- Synchrotron X-Ray Powder Diffraction -- Ultra Fast Powder Diffraction -- Taking it to Extremes – Powder Diffraction at Elevated Pressures.-Structure Solution by Charge Flipping -- Structure Solution: Global Optimisation Methods -- Proteins and Powders: Technical Developments -- Proteins and Powders: An Overview -- Parametric Powder Diffraction -- Powder Diffraction + Computational Methods -- Information on Imperfections -- Pair Distribution Function Technique: Principles and Methods -- Debye Analysis -- Quantitative Phase Analysis -- Quantifying amorphous phases -- Quantitative phase analysis: method developments -- Texture - an Overview -- The future of powder diffraction is 2-D -- Part 2 - Electron crystallography -- Electron Crystallography – New methods to explore Structure and Properties of the Nano World -- Image formation in the Electron Microscope -- Models for Precession Electron Diffraction -- Structure Solution using HRTEM -- Combination of X-ray Powder Diffraction, Electron Diffraction and HRTEM data -- Automated Electron Diffraction Tomography -- Automated Quantitative 3D Electron Diffraction Rotation Tomography -- Introduction to ADT/ADT3D -- Electrostatic Potential determined from Electron Diffraction Data -- Domino Phase Retrieval Algorithm for Structure Solution -- LARBED: Exploring the 4th dimension in Electron Diffraction -- Shadow Imaging for Charge Distribution Analysis -- Electron Diffraction of Protein 3D Nanocrystals -- Parallel-beam Diffraction and Direct Imaging in an aberration-corrected STEM.-Electron diffraction of commensurately and incommensurately modulated Materials -- Detection of Magnetic Circular Dichroism using TEM and EELS -- Index.-. |
520 ## - SUMARIO, ETC. | |
Sumario, etc. | The polycrystalline and nanocrystalline states play an increasingly important role in exploiting the properties of materials, encompassing applications as diverse as pharmaceuticals, catalysts, solar cells and energy storage. A knowledge of the three-dimensional atomic and molecular structure of materials is essential for understanding and controlling their properties, yet traditional single-crystal X-ray diffraction methods lose their power when only polycrystalline and nanocrystalline samples are available. It is here that powder diffraction and single-crystal electron diffraction techniques take over, substantially extending the range of applicability of the crystallographic principles of structure determination. This volume, a collection of teaching contributions presented at the Crystallographic Course in Erice in 2011, clearly describes the fundamentals and the state-of-the-art of powder diffraction and electron diffraction methods in materials characterisation, encompassing a diverse range of disciplines and materials stretching from archeometry to zeolites. As such, it is a comprehensive and valuable resource for those wishing to gain an understanding of the broad applicability of these two rapidly developing fields. |
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Shankland, Kenneth. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 356460 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Meshi, Louisa. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 356461 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Avilov, Anatoly. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 356462 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | David, William I.F. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 356463 |
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
9 (RLIN) | 299170 |
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
Número Internacional Estándar del Libro | 9789400755796 |
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-5580-2">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-5580-2</a> |
Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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