TEST - Catálogo BURRF
   
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  • Zhang, Rui-Qin.

Entrada Nombre personal

Número de registros utilizados en: 2

001 - NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: 347515

003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: MX-SnUAN

005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN

  • campo de control: 20160429160146.0

008 - DATOS DE LONGITUD FIJA

  • campo de control de longitud fija: 160429|| aca||aabn | a|a d

040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN

  • Centro catalogador/agencia de origen: MX-SnUAN
  • Centro/agencia transcriptor: MX-SnUAN

100 ## - ENCABEZAMIENTO-NOMBRE DE PERSONA

  • Nombre de persona: Zhang, Rui-Qin.

670 ## - FUENTE DE DATOS ENCONTRADOS

  • Cita de la fuente: Work cat.: (MX-SnUAN)307770: Zhang, Rui-Qin. autor, Growth Mechanisms and Novel Properties of Silicon Nanostructures from Quantum-Mechanical Calculations /
Universidad Autónoma de Nuevo León
Secretaría de Extensión y Cultura - Dirección de Bibliotecas @
Soportado en Koha