TEST - Catálogo BURRF
   
Vista normal Vista MARC
  • De Meyer, Kristin.

Entrada Nombre personal

Número de registros utilizados en: 2

001 - NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: 355550

003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: MX-SnUAN

005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN

  • campo de control: 20160429160650.0

008 - DATOS DE LONGITUD FIJA

  • campo de control de longitud fija: 160429|| aca||aabn | a|a d

040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN

  • Centro catalogador/agencia de origen: MX-SnUAN
  • Centro/agencia transcriptor: MX-SnUAN

100 ## - ENCABEZAMIENTO-NOMBRE DE PERSONA

  • Nombre de persona: De Meyer, Kristin.

670 ## - FUENTE DE DATOS ENCONTRADOS

  • Cita de la fuente: Work cat.: (MX-SnUAN)313353: Gonzalez Ruiz, Pilar. autor 355549, Poly-SiGe for MEMS-above-CMOS Sensors /
Universidad Autónoma de Nuevo León
Secretaría de Extensión y Cultura - Dirección de Bibliotecas @
Soportado en Koha