Fundamentos de normalización y metrología / Vicente Martínez Llebrez.
Tipo de material:
TextoEditor: México : Instituto Politécnico Nacional : Ministerio de Educación Superior (Cuba), c1998Descripción: 539 páginas ; 21 cmTipo de contenido: - texto
- no mediado
- volumen
- 9701818830
- T59 .M3 1998
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Libro
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BURRF: FG (PP) | T59 .M3 1998 | 1 | 1080156969 |
Incluye bibliografía.