TEST - Catálogo BURRF
   

Temperature-programmed reduction for solid materials characterizacion / Alan Jones, Brian McNicol.

Por: Colaborador(es): Tipo de material: TextoTextoSeries Editor: New York : Marcel Dekker, c1986Descripción: viii, 199 páginas : ilustraciones ; 24 cmTipo de contenido:
  • texto
Tipo de medio:
  • no mediado
Tipo de portador:
  • volumen
ISBN:
  • 082477583X
Tema(s): Clasificación LoC:
  • QD63.R4 J66 1986
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Tipo de ítem Biblioteca actual Signatura Copia número Estado Fecha de vencimiento Código de barras
Libro Libro BURRF: FG (PP) QD63.R4 J66 1986 1 1080191607

Incluye referencias bibliográficas e índice.

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