TEST - Catálogo BURRF
   

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1.
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis / by Terry L. Alford, Leonard C. Feldman, James W. Mayer. por
  • Alford, Terry L [autor]
  • Feldman, Leonard C [autor]
  • Mayer, James W [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2007
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

2.
Ion Implantation and Synthesis of Materials / by Michael Nastasi, James W. Mayer. por
  • Nastasi, Michael [autor]
  • Mayer, James W [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2006
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

3.
Patterns of Light : Chasing the Spectrum from Aristotle to LEDs / by Steven Beeson, James W. Mayer. por
  • Beeson, Steven [autor]
  • Mayer, James W [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: New York, NY : Springer New York, 2008
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

4.
Silver Metallization : Stability and Reliability / by Daniel Adams, Terry L. Alford, James W. Mayer. por
  • Adams, Daniel [autor]
  • Alford, Terry L [autor]
  • Mayer, James W [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Engineering Materials and Processes
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: London : Springer London, 2008
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

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