TEST - Catálogo BURRF		    

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1.
Nanoscale Memory Repair / by Masashi Horiguchi, Kiyoo Itoh. por
  • Horiguchi, Masashi [autor]
  • Itoh, Kiyoo [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Integrated Circuits and Systems
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: New York, NY : Springer New York : Imprint: Springer, 2011
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2.
Ultra-Low Voltage Nano-Scale Memories / edited by Kiyoo Itoh, Masashi Horiguchi, Hitoshi Tanaka. por
  • Itoh, Kiyoo [editor.]
  • Horiguchi, Masashi [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
  • Tanaka, Hiroshi [editor.]
Series Series On Integrated Circuits And Systems
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2007
Acceso en línea:
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

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