TEST - Catálogo BURRF
   

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1.
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits : Mitigating Soft Errors and Process Variations / by Rajesh Garg, Sunil P. Khatri. por
  • Garg, Rajesh [autor]
  • Khatri, Sunil P [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2010
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

2.
Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design / by Nikhil Jayakumar, Suganth Paul, Rajesh Garg, Kanupriya Gulati, Sunil P. Khatri. por
  • Jayakumar, Nikhil [autor]
  • Paul, Suganth [autor]
  • Garg, Rajesh [autor]
  • Gulati, Kanupriya [autor]
  • Khatri, Sunil P [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2010
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

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