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1.
Advances in Biometric Person Authentication : 5th Chinese Conference on Biometric Recognition, SINOBIOMETRICS 2004, Guangzhou, China, December 13-14, 2004. Proceedings / edited by Stan Z. Li, Jianhuang Lai, Tieniu Tan, Guocan Feng, Yunhong Wang. por
  • Li, Stan Z [editor.]
  • Lai, Jianhuang [editor.]
  • Tan, Tieniu [editor.]
  • Feng, Guocan [editor.]
  • Wang, Yunhong [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Lecture Notes in Computer Science ; 3338
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2005
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

2.
Advances in Biometric Person Authentication : International Wokshop on Biometric Recognition Systems, IWBRS 2005, Beijing, China, October 22-23, 2005. Proceedings / edited by Stan Z. Li, Zhenan Sun, Tieniu Tan, Sharath Pankanti, Gérard Chollet, David Zhang. por
  • Li, Stan Z [editor.]
  • Sun, Zhenan [editor.]
  • Tan, Tieniu [editor.]
  • Pankanti, Sharath [editor.]
  • Chollet, Gérard [editor.]
  • Zhang, David [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Lecture Notes in Computer Science ; 3781
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2005
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

3.
Advances in Biometrics : International Conference, ICB 2007, Seoul, Korea, August 27-29, 2007. Proceedings / edited by Seong-Whan Lee, Stan Z. Li. por
  • Lee, Seong-Whan [editor.]
  • Li, Stan Z [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Lecture Notes in Computer Science ; 4642
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2007
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

4.
Encyclopedia of Biometrics / edited by Stan Z. Li, Anil Jain. por
  • Li, Stan Z [editor.]
  • Jain, Anil [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2009
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

5.
Encyclopedia of biometrics / edited by Stan Z. Li, Anil K. Jain. por
  • Li, Stan Z [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
  • Jain, Anil K, 1948- [editor.]
Tipo de material: Texto Texto; Formato: electrónico disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US : Springer, 2015
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

6.
Handbook of biometric anti-spoofing : trusted biometrics under spoofing attacks / edited by Sébastien Marcel, Mark S. Nixon, Stan Z. Li. por
  • Marcel, Sébastien [editor.]
  • Nixon, Mark S [editor.]
  • Li, Stan Z [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
Tipo de material: Texto Texto; Formato: electrónico disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: London : Springer London : Springer, 2014
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

7.
Handbook of Face Recognition / by Stan Z. Li, Anil K. Jain. por
  • Li, Stan Z [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
  • Jain, Anil K, 1948- [autor]
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: New York, NY : Springer New York, 2005
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

8.
Handbook of Face Recognition / edited by Stan Z. Li, Anil K. Jain. por
  • Li, Stan Z [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
  • Jain, Anil K, 1948- [editor.]
Edición: Second Edition.
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: London : Springer London, 2011
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

9.
Handbook of Remote Biometrics : for Surveillance and Security / edited by Massimo Tistarelli, Stan Z. Li, Rama Chellappa. por
  • Tistarelli, Massimo [editor.]
  • Li, Stan Z [editor.]
  • Chellappa, Rama [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Advances in Pattern Recognition
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: London : Springer London, 2009
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

10.
Markov Random Field Modeling in Image Analysis / by Stan Z. Li. por
  • Li, Stan Z [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Advances in Pattern Recognition
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: London : Springer London, 2009
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

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