TEST - Catálogo BURRF		    

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1.
Evolution of Thin Film Morphology : Modeling and Simulations / by Matthew Pelliccione, Toh-Ming Lu. por
  • Pelliccione, Matthew [autor]
  • Lu, Toh-Ming [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Materials Science ; 108
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: New York, NY : Springer New York, 2008
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2.
Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics : Thermal and Electrical Stability / by Ming He, Toh-Ming Lu. por
  • He, Ming [autor]
  • Lu, Toh-Ming [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Springer Series in Materials Science ; 157
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: New York, NY : Springer New York, 2012
Acceso en línea:
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3.
RHEED Transmission Mode and Pole Figures : Thin Film and Nanostructure Texture Analysis / by Gwo-Ching Wang, Toh-Ming Lu. por
  • Wang, Gwo-Ching [autor]
  • Lu, Toh-Ming [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: New York, NY : Springer New York : Imprint: Springer, 2014
Acceso en línea:
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