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Reliability of Microtechnology : Interconnects, Devices and Systems / by Johan Liu, Olli Salmela, Jussi Sarkka, James E. Morris, Per-Erik Tegehall, Cristina Andersson. por
- Liu, Johan [autor]
- Salmela, Olli [autor]
- Sarkka, Jussi [autor]
- Morris, James E [autor]
- Tegehall, Per-Erik [autor]
- Andersson, Cristina [autor]
- SpringerLink (Servicio en línea)
Edición: 1.
Tipo de material:  Texto; Formato:
disponible en línea  ; Forma literaria:
No es ficción Editor: New York, NY : Springer New York, 2011
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.
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