TEST - Catálogo BURRF		    

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1.
Advanced symbolic analysis for vlsi systems : methods and applications / Guoyong Shi, Sheldon X.-D. Tan, Esteban Tlelo Cuautle. por
  • Shi, Guoyong [autor.]
  • Tan, Sheldon X.-D [autor.]
  • Tlelo Cuautle, Esteban [autor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Tipo de material: Texto Texto; Formato: electrónico disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: New York, NY : Springer New York : Springer, 2014
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2.
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs / by Ruijing Shen, Sheldon X.-D. Tan, Hao Yu. por
  • Shen, Ruijing [autor]
  • Tan, Sheldon X.-D [autor]
  • Yu, Hao [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2012
Acceso en línea:
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

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