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	1.	Interfacial Compatibility in Microelectronics : Moving Away from the Trial and Error Approach / by Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti. por Laurila, Tomi [autor] Vuorinen, Vesa [autor] Paulasto-Kröckel, Mervi [autor] Turunen, Markus [autor] Mattila, Toni T [autor] Kivilahti, Jorma [autor] SpringerLink (Servicio en línea) Series Microsystems Tipo de material: Texto; Formato: disponible en línea ; Forma literaria: No es ficción Editor: London : Springer London, 2012 Acceso en línea: Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) Disponibilidad: No hay ítems disponibles. Agregar al carrito (remover)
	2.	Thermodynamics, diffusion and the kirkendall effect in solids / Aloke Paul, Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Sergiy V. Divinski. por Paul, Aloke [autor.] Laurila, Tomi [autor.] Vuorinen, Vesa [autor.] Divinski, Sergiy V [autor.] SpringerLink (Servicio en línea) Tipo de material: Texto; Formato: electrónico disponible en línea ; Forma literaria: No es ficción Editor: Cham : Springer International Publishing : Springer, 2014 Acceso en línea: Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) Disponibilidad: No hay ítems disponibles. Agregar al carrito (remover)

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