TEST - Catálogo BURRF
   

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1.
Advances in Biometrics : International Conference, ICB 2007, Seoul, Korea, August 27-29, 2007. Proceedings / edited by Seong-Whan Lee, Stan Z. Li. por
  • Lee, Seong-Whan [editor.]
  • Li, Stan Z [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Lecture Notes in Computer Science ; 4642
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2007
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

2.
Recent progress in brain and cognitive engineering / edited by Seong-Whan Lee, Heinrich H. Bülthoff, Klaus-Robert Müller. por
  • Lee, Seong-Whan [editor.]
  • Bülthoff, Heinrich H [editor.]
  • Müller, Klaus-Robert [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Trends in Augmentation of Human Performance ; 5
Edición: 1st ed. 2015.
Tipo de material: Texto Texto; Formato: electrónico disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Dordrecht : Springer Netherlands : Springer, 2015
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

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