	TEST - Catálogo BURRF

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	1.	Biometrics and ID Management : COST 2101 European Workshop, BioID 2011, Brandenburg (Havel), Germany, March 8-10, 2011. Proceedings / edited by Claus Vielhauer, Jana Dittmann, Andrzej Drygajlo, Niels Christian Juul, Michael C. Fairhurst. por Vielhauer, Claus [editor.] Dittmann, Jana [editor.] Drygajlo, Andrzej [editor.] Juul, Niels Christian [editor.] Fairhurst, Michael C [editor.] SpringerLink (Servicio en línea) Series Lecture Notes in Computer Science ; 6583 Tipo de material: Texto; Formato: disponible en línea ; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2011 Acceso en línea: Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) Disponibilidad: No hay ítems disponibles. Agregar al carrito (remover)
	2.	Biometrics and Identity Management : First European Workshop, BIOID 2008, Roskilde, Denmark, May 7-9, 2008. Revised Selected Papers / edited by Ben Schouten, Niels Christian Juul, Andrzej Drygajlo, Massimo Tistarelli. por Schouten, Ben [editor.] Juul, Niels Christian [editor.] Drygajlo, Andrzej [editor.] Tistarelli, Massimo [editor.] SpringerLink (Servicio en línea) Series Lecture Notes in Computer Science ; 5372 Tipo de material: Texto; Formato: disponible en línea ; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2008 Acceso en línea: Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) Disponibilidad: No hay ítems disponibles. Agregar al carrito (remover)

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