Resultados
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1.
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies / by Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel. por
- Bosio, Alberto [autor]
- Dilillo, Luigi [autor]
- Girard, Patrick [autor]
- Pravossoudovitch, Serge [autor]
- Virazel, Arnaud [autor]
- SpringerLink (Servicio en línea)
Edición: 1.
Tipo de material:  Texto; Formato:
disponible en línea  ; Forma literaria:
No es ficción Editor: Boston, MA : Springer US, 2010
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.
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2.
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Dynamic Formal Epistemology / edited by Patrick Girard, Olivier Roy, Mathieu Marion. por
- Girard, Patrick [editor.]
- Roy, Olivier [editor.]
- Marion, Mathieu [editor.]
- SpringerLink (Servicio en línea)
Series Synthese Library, Studies in Epistemology, Logic, Methodology, and Philosophy of Science ; 351
Tipo de material: Texto; Formato:
disponible en línea ; Forma literaria:
No es ficción Editor: Dordrecht : Springer Netherlands, 2011
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.
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3.
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