TEST - Catálogo BURRF		    

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1.
Design exploration of emerging nano-scale non-volatile memory / Hao Yu, Yuhao Wang. por
  • Yu, Hao [autor.]
  • Wang, Yuhao [autor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Tipo de material: Texto Texto; Formato: electrónico disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: New York, NY : Springer New York : Springer, 2014
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2.
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs / by Ruijing Shen, Sheldon X.-D. Tan, Hao Yu. por
  • Shen, Ruijing [autor]
  • Tan, Sheldon X.-D [autor]
  • Yu, Hao [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2012
Acceso en línea:
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

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