TEST - Catálogo BURRF		    

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1.
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies : Process-Aware SRAM Design and Test / by Andrei Pavlov, Manoj Sachdev. por
  • Pavlov, Andrei [autor]
  • Sachdev, Manoj [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Frontiers In Electronic Testing ; 40
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Dordrecht : Springer Netherlands, 2008
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2.
The Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500™ / by Francisco Silva, Teresa McLaurin, Tom Waayers. por
  • Silva, Francisco [autor]
  • McLaurin, Teresa [autor]
  • Waayers, Tom [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Frontiers in Electronic Testing ; 35
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2006
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3.
Data Mining and Diagnosing IC Fails / by Leendert M. Huisman. por
  • Huisman, Leendert M [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Frontiers in Electronic Testing ; 31
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2005
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4.
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits : 2nd Edition / edited by Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez. por
  • Sachdev, Manoj [editor.]
  • Gyvez, José Pineda de [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Frontiers in Electronic Testing ; 34
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2007
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5.
Digital Timing Measurements : From Scopes and Probes to Timing and Jitter / by Wolfgang Maichen. por
  • Maichen, Wolfgang [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Frontiers in Electronic Testing ; 33
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2006
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6.
Emerging Nanotechnologies : Test, Defect Tolerance, and Reliability / edited by Mohammad Tehranipoor. por
  • Tehranipoor, Mohammad [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Frontiers in Electronic Testing ; 37
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2008
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7.
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits / by Prithviraj Kabisatpathy, Alok Barua, Satyabroto Sinha. por
  • Kabisatpathy, Prithviraj [autor]
  • Barua, Alok [autor]
  • Sinha, Satyabroto [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Frontiers in Electronic Testing ; 30
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2005
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8.
Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting / edited by Dimitris Gizopoulos. por
  • Gizopoulos, Dimitris [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Frontiers in Electronic Testing ; 27
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2006
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9.
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization / by Erik Larsson. por
  • Larsson, Erik [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Frontiers in Electronic Testing ; 29
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US, 2005
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10.
Models in Hardware Testing : Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault / edited by Hans-Joachim Wunderlich. por
  • Wunderlich, Hans-Joachim [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Frontiers in Electronic Testing ; 43
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Dordrecht : Springer Netherlands, 2010
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11.
New Methods of Concurrent Checking / by Michael Göessel, Vitaly Ocheretny, Egor Sogomonyan, Daniel Marienfeld. por
  • Göessel, Michael [autor]
  • Ocheretny, Vitaly [autor]
  • Sogomonyan, Egor [autor]
  • Marienfeld, Daniel [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Frontiers In Electronic Testing ; 42
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Dordrecht : Springer Netherlands, 2008
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12.
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits / by Gloria Huertas Sánchez, Diego Vázquez García de la Vega, Adoración Rueda Rueda, José Luis Huertas Díaz. por
  • Sánchez, Gloria Huertas [autor]
  • García de la Vega, Diego Vázquez [autor]
  • Rueda, Adoración Rueda [autor]
  • Díaz, José Luis Huertas [autor]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Frontiers in Electronic Testing ; 36
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Dordrecht : Springer Netherlands, 2006
Acceso en línea:
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13.
Soft Errors in Modern Electronic Systems / edited by Michael Nicolaidis. por
  • Nicolaidis, Michael [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Frontiers in Electronic Testing ; 41
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Boston, MA : Springer US : Imprint: Springer, 2011
Acceso en línea:
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