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100 1 _aJones, Alan.
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245 1 0 _aTemperature-programmed reduction for solid materials characterizacion /
_cAlan Jones, Brian McNicol.
264 1 _aNew York :
_bMarcel Dekker,
_cc1986.
300 _aviii, 199 páginas :
_bilustraciones ;
_c24 cm.
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504 _aIncluye referencias bibliográficas e índice.
650 4 _aMateriales
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650 4 _aReducción química.
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700 1 _aMcNicol, Brian.
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