Applied Scanning Probe Methods VIII : (Registro nro. 297090)
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000 -CABECERA | |
---|---|
campo de control de longitud fija | 03437nam a22003855i 4500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | 297090 |
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | MX-SnUAN |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20160429155402.0 |
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 150903s2008 gw | o |||| 0|eng d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
Número Internacional Estándar del Libro | 9783540740803 |
-- | 9783540740803 |
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES | |
Número estándar o código | 10.1007/9783540740803 |
Fuente del número o código | doi |
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
Número de control de sistema | vtls000350746 |
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
Nivel de reglas en descripción bibliográfica | 201509030420 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso | VLOAD |
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia | 201405060239 |
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación | VLOAD |
-- | 201402171104 |
-- | staff |
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
Centro catalogador/agencia de origen | MX-SnUAN |
Lengua de catalogación | spa |
Centro/agencia transcriptor | MX-SnUAN |
Normas de descripción | rda |
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Bhushan, Bharat. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 123472 |
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
Título | Applied Scanning Probe Methods VIII : |
Resto del título | Scanning Probe Microscopy Techniques / |
Mención de responsabilidad, etc. | edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori. |
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Berlin, Heidelberg : |
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer Berlin Heidelberg, |
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2008. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Otras características físicas | recurso en línea. |
336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
Término de tipo de contenido | texto |
Código de tipo de contenido | txt |
Fuente | rdacontent |
337 ## - TIPO DE MEDIO | |
Nombre/término del tipo de medio | computadora |
Código del tipo de medio | c |
Fuente | rdamedia |
338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
Código del tipo de soporte | cr |
Fuente | rdacarrier |
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
Tipo de archivo | archivo de texto |
Formato de codificación | |
Fuente | rda |
490 0# - MENCIÓN DE SERIE | |
Mención de serie | Nano Science and Technolgy, |
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas | 1434-4904 |
500 ## - NOTA GENERAL | |
Nota general | Springer eBooks |
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
Nota de contenido con formato | Background-Free Apertureless Near-Field Optical Imaging -- Critical Dimension Atomic Force Microscopy for Sub-50-nm Microelectronics Technology Nodes -- Near Field Probes: From Optical Fibers to Optical Nanoantennas -- Carbon Nanotubes as SPM Tips: Mechanical Properties of Nanotube Tips and Imaging -- Scanning Probes for the Life Sciences -- Self-Sensing Cantilever Sensor for Bioscience -- AFM Sensors in Scanning Electron and Ion Microscopes: Tools for Nanomechanics, Nanoanalytics, and Nanofabrication -- Cantilever Spring-Constant Calibration in Atomic Force Microscopy -- Frequency Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids -- Kelvin Probe Force Microscopy: Recent Advances and Applications -- Application of Scanning Capacitance Microscopy to Analysis at the Nanoscale -- Probing Electrical Transport Properties at the Nanoscale by Current-Sensing Atomic Force Microscopy. |
520 ## - SUMARIO, ETC. | |
Sumario, etc. | The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The first volume came out in January 2004, the second to fourth volumes in early 2006 and the fifth to seventh volumes in late 2006. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications. After introducing scanning probe microscopy, including sensor technology and tip characterization, chapters on use in various industrial applications are presented. Industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters have been written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective. |
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Fuchs, Harald. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 326642 |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Tomitori, Masahiko. |
Término indicativo de función/relación | editor. |
9 (RLIN) | 332610 |
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
9 (RLIN) | 299170 |
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
Número Internacional Estándar del Libro | 9783540740797 |
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3</a> |
Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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