TEST - Catálogo BURRF
   

Applied Scanning Probe Methods IX : (Registro nro. 297091)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 03806nam a22003855i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 297091
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20160429155402.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150903s2008 gw | o |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9783540740834
-- 9783540740834
024 7# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código 10.1007/9783540740834
Fuente del número o código doi
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000350747
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
Nivel de reglas en descripción bibliográfica 201509030420
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar no-encabezamientos de materia en puntos de acceso VLOAD
Nivel de esfuerzo utilizado en la asignación de encabezamientos de materia 201405060239
Nivel de esfuerzo utilizado para asignar clasificación VLOAD
-- 201402171104
-- staff
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen MX-SnUAN
Lengua de catalogación spa
Centro/agencia transcriptor MX-SnUAN
Normas de descripción rda
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Tomitori, Masahiko.
Término indicativo de función/relación editor.
9 (RLIN) 332610
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Applied Scanning Probe Methods IX :
Resto del título Characterization /
Mención de responsabilidad, etc. edited by Masahiko Tomitori, Bharat Bhushan, Harald Fuchs.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Berlin, Heidelberg :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer Berlin Heidelberg,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2008.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión Lx, 388 páginas
Otras características físicas recurso en línea.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Nano Science and Technolgy,
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas 1434-4904
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Ultrathin Fullerene-Based Films via STM and STS -- Quantitative Measurement of Materials Properties with the (Digital) Pulsed Force Mode -- Advances in SPMs for Investigation and Modification of Solid-Supported Monolayers -- Atomic Force Microscopy Studies of the Mechanical Properties of Living Cells -- Towards a Nanoscale View of Microbial Surfaces Using the Atomic Force Microscope -- Cellular Physiology of Epithelium and Endothelium -- Application of Atomic Force Microscopy to the Study of Expressed Molecules in or on a Single Living Cell -- What Can Atomic Force Microscopy Say About Amyloid Aggregates? -- Atomic Force Microscopy: Interaction Forces Measured in Phospholipid Monolayers, Bilayers and Cell Membranes -- Self-Assembled Monolayers on Aluminum and Copper Oxide Surfaces: Surface and Interface Characteristics, Nanotribological Properties, and Chemical Stability -- High Sliding Velocity Nanotribological Investigations of Materials for Nanotechnology Applications -- Measurement of the Mechanical Properties of One-Dimensional Polymer Nanostructures by AFM -- Evaluating Tribological Properties of Materials for Total Joint Replacements Using Scanning Probe Microscopy -- Near-Field Optical Spectroscopy of Single Quantum Constituents.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The first volume came out in January 2004, the second to fourth volumes in early 2006 and the fifth to seventh volumes in late 2006. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications. After introducing scanning probe microscopy, including sensor technology and tip characterization, chapters on use in various industrial applications are presented. Industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters have been written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective.
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Bhushan, Bharat.
Término indicativo de función/relación editor.
9 (RLIN) 123472
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Fuchs, Harald.
Término indicativo de función/relación editor.
9 (RLIN) 326642
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9783540740827
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4</a>
Nota pública Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL)
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

No hay ítems disponibles.

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