Fib nanostructures / (Registro nro. 317061)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 03269nam a22003375i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 317061 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | MX-SnUAN |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
| campo de control | 20160429161009.0 |
| 007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | cr nn 008mamaa |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 160108s2013 gw | s |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9783319028743 |
| -- | 978-3-319-02874-3 |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control de sistema | vtls000416158 |
| 039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO] | |
| -- | 201601081116 |
| -- | staff |
| 050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
| Número de clasificación | T174.7 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
| Título | Fib nanostructures / |
| Mención de responsabilidad, etc. | edited by Zhiming M. Wang. |
| 264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
| Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Cham : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Springer International Publishing : |
| -- | Springer, |
| Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2013. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | xiii, 530 páginas : |
| Otras características físicas | 375 ilustraciones, 200 ilustraciones en color. |
| 336 ## - TIPO DE CONTENIDO | |
| Término de tipo de contenido | texto |
| Código de tipo de contenido | txt |
| Fuente | rdacontent |
| 337 ## - TIPO DE MEDIO | |
| Nombre/término del tipo de medio | computadora |
| Código del tipo de medio | c |
| Fuente | rdamedia |
| 338 ## - TIPO DE SOPORTE | |
| Nombre/término del tipo de soporte | recurso en línea |
| Código del tipo de soporte | cr |
| Fuente | rdacarrier |
| 347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL | |
| Tipo de archivo | archivo de texto |
| Formato de codificación | |
| Fuente | rda |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE | |
| Mención de serie | Lecture Notes in Nanoscale Science and Technology, |
| Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas | 2195-2159 ; |
| Designación de volumen o secuencia | 20 |
| 500 ## - NOTA GENERAL | |
| Nota general | Springer eBooks |
| 505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO | |
| Nota de contenido con formato | Preface -- Chapter 1: Focused Ion Beam (FIB) technology for micro and nanoscale fabrications -- Chapter 2: Epitaxial ferroelectric nanostructures fabricated by FIB milling -- Chapter 3: Low current focused-ion-beam milling for freestanding nanomaterial characterization -- Chapter 4: Focused ion beam milling of carbon nanotube yarns and Bucky-papers: Correlating their internal structure with their macro-properties -- Chapter 5: Nanoscale electrical contacts grown by Focused-Ion-Beam (FIB) Induced Deposition -- Chapter 6: Metal induced crystallization of focused ion beam induced deposition for functional patterned ultrathin nanocarbon -- Chapter 7: Deterministic Fabrication of Micro- and Nano-Structures by Focused Ion Beam -- Chapter 8: Application of ion beam processes to scanning probe microscopy -- Chapter 9: Fabrication of needle-shaped specimens containing sub-surface nanostructures for Electron Tomography -- Chapter 10: Fabrication technique of deformation carriers (gratings and speckle patterns) with FIB for micro/nano-scale deformation measurement -- Chapter 11: Controlled Quantum Dot Formation on Focused Ion Beam patterned GaAs Substrates -- Chapter 12: Development of Functional Metallic Glassy Materials by FIB and Nano-imprint Technologies -- Chapter 13: Nanostructured Materials Driven by Dielectrophoresis on Nanoelectrods Patterned by Focused Ion Beam -- Chapter 14: Focused Ion Beam Assisted Nano-Scale Processing and Thermoelectrical Characterization -- Chapter 15: FIB design for Nanofluidic applications -- Chapter 16: FIB Patterning of Stainless Steel for the Development of Nano-Structured Stent Surfaces for Cardiovascular Applications -- Chapter 17: Evaluation of damages induced by Ga+ focused ion beam in piezoelectric nanostructures -- Chapter 18: Instabilities in Focused Ion Beam-patterned nanostructures -- Chapter 19: Nanostructures by mass-separated FIB -- Index. |
| 590 ## - NOTA LOCAL (RLIN) | |
| Nota local | Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto. |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Wang, Zhiming M, |
| Término indicativo de función/relación | editor. |
| 9 (RLIN) | 303055 |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Servicio en línea) |
| 9 (RLIN) | 299170 |
| 776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL | |
| Información de relación/Frase instructiva de referencia | Edición impresa: |
| Número Internacional Estándar del Libro | 9783319028736 |
| 856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS | |
| Identificador Uniforme del Recurso | <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-02874-3">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-02874-3</a> |
| Nota pública | Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL) |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
| Tipo de ítem Koha | Recurso en línea |
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