TEST - Catálogo BURRF
   

Fib nanostructures / (Registro nro. 317061)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 03269nam a22003375i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 317061
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control MX-SnUAN
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20160429161009.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija cr nn 008mamaa
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 160108s2013 gw | s |||| 0|eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9783319028743
-- 978-3-319-02874-3
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema vtls000416158
039 #9 - NIVEL DE CONTROL BIBLIOGRÁFICO Y DETALLES DE CODIFICACIÓN [OBSOLETO]
-- 201601081116
-- staff
050 #4 - CLASIFICACIÓN DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación T174.7
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Fib nanostructures /
Mención de responsabilidad, etc. edited by Zhiming M. Wang.
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Cham :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer International Publishing :
-- Springer,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2013.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión xiii, 530 páginas :
Otras características físicas 375 ilustraciones, 200 ilustraciones en color.
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Código de tipo de contenido txt
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio computadora
Código del tipo de medio c
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte recurso en línea
Código del tipo de soporte cr
Fuente rdacarrier
347 ## - CARACTERÍSTICAS DEL ARCHIVO DIGITAL
Tipo de archivo archivo de texto
Formato de codificación PDF
Fuente rda
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Lecture Notes in Nanoscale Science and Technology,
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas 2195-2159 ;
Designación de volumen o secuencia 20
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Springer eBooks
505 0# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Preface -- Chapter 1: Focused Ion Beam (FIB) technology for micro and nanoscale fabrications -- Chapter 2: Epitaxial ferroelectric nanostructures fabricated by FIB milling -- Chapter 3: Low current focused-ion-beam milling for freestanding nanomaterial characterization -- Chapter 4: Focused ion beam milling of carbon nanotube yarns and Bucky-papers: Correlating their internal structure with their macro-properties -- Chapter 5: Nanoscale electrical contacts grown by Focused-Ion-Beam (FIB) Induced Deposition -- Chapter 6: Metal induced crystallization of focused ion beam induced deposition for functional patterned ultrathin nanocarbon -- Chapter 7: Deterministic Fabrication of Micro- and Nano-Structures by Focused Ion Beam -- Chapter 8: Application of ion beam processes to scanning probe microscopy -- Chapter 9: Fabrication of needle-shaped specimens containing sub-surface nanostructures for Electron Tomography -- Chapter 10: Fabrication technique of deformation carriers (gratings and speckle patterns) with FIB for micro/nano-scale deformation measurement -- Chapter 11: Controlled Quantum Dot Formation on Focused Ion Beam patterned GaAs Substrates -- Chapter 12: Development of Functional Metallic Glassy Materials by FIB and Nano-imprint Technologies -- Chapter 13: Nanostructured Materials Driven by Dielectrophoresis on Nanoelectrods Patterned by Focused Ion Beam -- Chapter 14: Focused Ion Beam Assisted Nano-Scale Processing and Thermoelectrical Characterization -- Chapter 15: FIB design for Nanofluidic applications -- Chapter 16: FIB Patterning of Stainless Steel for the Development of Nano-Structured Stent Surfaces for Cardiovascular Applications -- Chapter 17: Evaluation of damages induced by Ga+ focused ion beam in piezoelectric nanostructures -- Chapter 18: Instabilities in Focused Ion Beam-patterned nanostructures -- Chapter 19: Nanostructures by mass-separated FIB -- Index.
590 ## - NOTA LOCAL (RLIN)
Nota local Para consulta fuera de la UANL se requiere clave de acceso remoto.
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Wang, Zhiming M,
Término indicativo de función/relación editor.
9 (RLIN) 303055
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Servicio en línea)
9 (RLIN) 299170
776 08 - ENTRADA/ENLACE A UN FORMATO FÍSICO ADICIONAL
Información de relación/Frase instructiva de referencia Edición impresa:
Número Internacional Estándar del Libro 9783319028736
856 40 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS
Identificador Uniforme del Recurso <a href="http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-02874-3">http://remoto.dgb.uanl.mx/login?url=http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-02874-3</a>
Nota pública Conectar a Springer E-Books (Para consulta externa se requiere previa autentificación en Biblioteca Digital UANL)
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Tipo de ítem Koha Recurso en línea

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Soportado en Koha