TEST - Catálogo BURRF		    

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1.
Applied Scanning Probe Methods IX : Characterization / edited by Masahiko Tomitori, Bharat Bhushan, Harald Fuchs. por
  • Tomitori, Masahiko [editor.]
  • Bhushan, Bharat [editor.]
  • Fuchs, Harald [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Nano Science and Technolgy
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2008
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2.
Applied Scanning Probe Methods VIII : Scanning Probe Microscopy Techniques / edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori. por
  • Bhushan, Bharat [editor.]
  • Fuchs, Harald [editor.]
  • Tomitori, Masahiko [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Nano Science and Technolgy
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2008
Acceso en línea:
Disponibilidad: No hay ítems disponibles.

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3.
Applied Scanning Probe Methods X : Biomimetics and Industrial Applications / edited by Bharat Bhushan, Masahiko Tomitori, Harald Fuchs. por
  • Bhushan, Bharat [editor.]
  • Tomitori, Masahiko [editor.]
  • Fuchs, Harald [editor.]
  • SpringerLink (Servicio en línea)
Series Nano Science and Technolgy
Tipo de material: Texto Texto; Formato: disponible en línea remoto; Forma literaria: No es ficción
Editor: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2008
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